Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

26

artikkel kogumikus

Die Anwendung von Tests im Fernstudium an technischen UniversitätenUmborg, ViktoriaV Regional Seminar East-West Meeting of Language Testing, Tallinn, September 2-4, 1991 : summaries1991 / p. 104-107

artikkel kogumikus

27

artikkel kogumikus

Difficulty of cloze test modificationsKokkota, Valmar2nd regional seminar Testing in foreign language teaching : Tallinn, February 25-26, 1986 : summaries1986 / p. 51-53 https://www.ester.ee/record=b1217950*est

artikkel kogumikus

28

artikkel kogumikus

Digital design learning system based on Java appletsJutman, Artur; Sudnitsõn, Aleksander; Ubar, Raimund-Johannes4th Annual Conference of the LTSN Centre for Information and Computer Sciences : 26th-28th August 2002, NUI Galway, Ireland2003 / p. 183-187 : ill https://pld.ttu.ee/dildis/publications/Sudnitson%20LTSN-ICS%202003.pdf

artikkel kogumikus

29

dissertatsioon

Digital test in WEB-based environmentIvask, Eero2006 https://www.ester.ee/record=b2158119*est

dissertatsioon

30

artikkel ajalehes

Eesti teadlaste leiutis: uus koroonaviiruse kiirtest ootab heakskiitu ja otsib tootjatLadva, AssoÕhtuleht2020 / Lk. 5 https://dea.digar.ee/article/ohtuleht/2020/12/07/2.12

artikkel ajalehes

31

artikkel ajalehes

Eesti-Saksa ettevõte arendas laboritäpsusega koroona kiirtestiEesti Elu : [Kanada ajaleht]2020 / lk. 3 https://eestielu.com/et/eesti-elu/paberleht/11209-eesti-elu-nr-48-4-detsember-2020-digileht

artikkel ajalehes

32

artikkel ajalehes

Ei tea mida ülikoolis õppida? Erialatest aitab teha õige valikupostimees.ee2023 Ei tea mida ülikoolis õppida? Erialatest aitab teha õige valiku Ei tea mida ülikoolis õppida? Erialatest aitab teha õige valiku

artikkel ajalehes

33

artikkel kogumikus

E-learning tools for teaching self-test of digital electronicsJutman, Artur; Gramatova, Elena; Pikula, T.; Ubar, Raimund-Johannes15 EAEEIE International Conference on Innovation in Education for Electrical and Information Engineering : Sofia, Bulgaria, May 27-29, 20042004 / p. 267-272 : ill

artikkel kogumikus

34

raamat

ESTEL test : tests of the English language : lower-intermediate levelKokkota, Valmar1999 https://www.ester.ee/record=b1056546*est

raamat

35

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Evaluation of DOAC dipstick test for detecting direct oral anticoagulants in urine compared with a clinically relevant plasma threshold concentrationÖrd, Lenna; Marandi, Toomas; Märk, Marit; Raidjuk, Leonid; Kostjuk, Jelena; Banys, Valdas; Krause, Karit; Pikta, MarikaClinical and Applied Thrombosis/Hemostasis2022 / 8 p. : ill https://doi.org/10.1177/10760296221084307 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

36

artikkel ajakirjas

Evaluation of some mechanical and physical properties of ‘Oriented Strand Board (OSB/3)’ following cyclic accelerated aging testsLille, Harri; Kiviste, Mihkel; Telling, Renar; Leppik, Taimo; Virro, Indrek; Kask, ReginoEuropean Journal of Wood and Wood Products2022 / p. 731–740 https://doi.org/10.1007/s00107-022-01803-9

artikkel ajakirjas

37

artikkel kogumikus

Exact static compaction of independent test sequencesRaik, Jaan; Jutman, Artur; Ubar, Raimund-JohannesBEC 2002 : proceedings of the 8th Biennial Baltic Electronics Conference : October 6-9, 2002, Tallinn, Estonia2002 / p. 315-318 : ill

artikkel kogumikus

38

artikkel kogumikus

Exact static compaction of sequential circuit tests using branch-and-bound and search state registrationRaik, Jaan; Jutman, Artur; Ubar, Raimund-JohannesETW'02 : 7th IEEE European Test Workshop, Gorfu Greece, May 26-29, 2002 : informal digest2002 / p. 19-20 https://www.researchgate.net/publication/250423148_Exact_Static_Compaction_of_Sequential_Circuit_Tests_Using_Branch_and-Bound_and_Search_State_Registration

artikkel kogumikus

39

artikkel kogumikus

Feste Wortverbindungen des Deutschen als Objekt des TestensUmborg, Viktoria2nd regional seminar Testing in foreign language teaching : Tallinn, February 25-26, 1986 : summaries1986 / S. 79-81 https://www.ester.ee/record=b1217950*est

artikkel kogumikus

40

raamat

Filosoofia ja loogika e-kursuste enesetestid [Elektrooniline teavik]Meos, Indrek2020 https://www.indrekmeos.xyz/enesetestid.html

raamat

41

raamat

Filosoofia ja loogika testid [Elektrooniline teavik]Meos, Indrek2020 https://filosoofia.indrekmeos.xyz/testid/

raamat

42

artikkel kogumikus

FTGEN - система генерирования функциональных тестовUbar, Raimund-Johannes; Dušina, Julia; Zaugarov, Viktor; Крупнова Е.; Storožev, SergeiProceedings of CAD-93 : new information technologies for science, education and business, Yalta, May 4-13, 19931993 / p. 123-125

artikkel kogumikus

43

artikkel kogumikus

Functional test program generation for digital systemsUbar, Raimund-Johannes; Dušina, Julia; Krupnova, Helena; Storožev, Sergei; Zaugarov, ViktorTestmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen : proceedings of the 6th workshop, Vaals (Niederlande), March 6-8, 19941994 / p. 14-18: ill

artikkel kogumikus

44

artikkel ajalehes

Geneetiline test aitab arstidel määrata sobivaima ravimi ja annuseLaanetu, Mari-Liis; Viigimaa, Margusmu.ee2024 Geneetiline test aitab arstidel määrata sobivaima ravimi ja annuse

artikkel ajalehes

45

artikkel kogumikus

Generating tests from EFSM models using guided model checking and iterated search refinmentErnits, Juhan-Peep; Kull, Andres; Raiend, Kullo; Vain, JüriFormal Approach to Software Testing and Runtime Verification : First Combined International Workshops FATES 2006 and RV 2006 : Seattle, WA, USA, August 15-16, 2006 : revised selected papers2006 / p. 85-99 https://link.springer.com/chapter/10.1007/11940197_6

artikkel kogumikus

46

artikkel ajakirjas

Hierarchical approaches to test generation and fault simulationUbar, Raimund-JohannesRadioelectronics and informatics2003 / p. 204

artikkel ajakirjas

47

artikkel kogumikus

Hierarchical defect level test quality analysisBlyzniuk, M.; Cibakova, Tatiana; Gramatova, Elena; Kuzmicz, W.; Lobur, M.; Pleskacz, Witold A.; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesVILAB User Forum2000 / [11] p

artikkel kogumikus

48

artikkel kogumikus

Hierarchical test generation based on alternative graph modelUbar, Raimund-JohannesProceedings of the Second Workshop on Hierarchical Test Generation : Microelectronics Technology Park, Duisburg, Germany, September 25-26, 19951995 / p. 18

artikkel kogumikus

49

artikkel kogumikus

Hierarchical test generation for complex digital systems with control and data processing partsUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan"Test, Assembly and Packaging" : SEMICON Technical Symposium : Singapur, May 3-6, 19991999 / p. 43-52

artikkel kogumikus

50

artikkel kogumikus

Hierarchical test generation. SEMI show slidesUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan"Test, Assembly and Packaging" : SEMICON Technical Symposium : Singapur, May 3-6, 19991999 / p. 53-64

artikkel kogumikus

testid (märksõna)

teaviku laadid

märksõna 4