Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Liitotsing
Valitud kirjed
0
IEEE (kirjastus/väljaandja)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Lihtotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2248
Vaata veel..
(3/11)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1000*)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
801
artikkel kogumikus
Experimentally adjusted modelling and simulation technique for a catamaran autonomous surface vessel
Astrov, Igor
;
Udal, Andres
;
Mõlder, Heigo
;
Jalakas, Tanel
;
Möller, Taavi
International Conference on Electrical, Computer, and Energy Technologies, ICECET 2022, Prague, Czech Republic, July 20-22, 2022
2022
/
7 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ICECET55527.2022.9873069
artikkel kogumikus
802
artikkel kogumikus
Expert knowledge elicitation for skill level categorization of attack paths
Mezešova, Terezia
;
Bahsi, Hayretdin
2019 International Conference on Cyber Security and Protection of Digital Services (Cyber Security)
2019
/
8 p. : tab
https://doi.org/10.1109/CyberSecPODS.2019.8885192
artikkel kogumikus
803
artikkel kogumikus
Expert knowledge elicitation for skill level categorization of attack paths
Mezešova, Terezia
;
Bahsi, Hayretdin
Cyber science 2018 : conference programme
2018
/
p. 29
https://www.c-mric.com/wp-content/uploads/2018/04/20180611-Cyber-Science-2018-Event-Brochure-DRAFT-v0.6.pdf
artikkel kogumikus
804
artikkel kogumikus
Exploiting data transfer locality in memory mapping
Ellervee, Peeter
;
Miranda, Miguel
;
Catthoor, Francky
;
Hemani, Ahmed
25th EUROMICRO conference : Informatics : Theory and Practice for the New Millennium : Milan, Italy, September 8-10, 1999 : proceedings. Volume I
1999
/
p. 14-21 : ill
artikkel kogumikus
805
artikkel kogumikus
Exploiting high-level descriptions for circuits fault tolerance assessments
Benso, A.
;
Prinetto, Paolo
;
Rebaudengo, M.
;
Sonza Reorda, Matteo
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
1997 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, Paris, October 20-22, 1997
1997
/
p. 212-216
artikkel kogumikus
806
artikkel kogumikus
Exploiting time and frequency masking in consistent sinusoidal analysis-synthesis
Vafin, Renat
;
Vang Andersen, Soren
;
Kleijn, W. Bastiaan
2000 IEEE International Conference on Acoustics, Speech, and Signal Processing : proceedings : 5-9 June, 2000, Hilton Hotel and Convention Center, Istanbul, Turkey. Vol. 2
2000
/
p. 901-904 : ill
artikkel kogumikus
807
artikkel kogumikus
Exploratory data analysis for demand-side flexibility quantification
Shahid, Arqum
;
Ahmadiahangar, Roya
;
Rosin, Argo
;
Maask, Vahur
;
Martins, João F.
2023 IEEE 17th International Conference on Compatibility, Power Electronics and Power Engineering (CPE-POWERENG)
2023
/
6 p
https://doi.org/10.1109/CPE-POWERENG58103.2023.10227408
artikkel kogumikus
808
artikkel kogumikus
Exploring deep learning based object detection architectur
Saddique, Muhammad Saddique
;
Raza, Ahsan
;
Abideen, Zain Ul
;
Khan, Shah Nawaz
2020 17th International Bhurban Conference on Applied Sciences and Technology (IBCAST), Islamabad, Pakistan, 2020
2020
/
p. 255-259
https://doi.org/10.1109/IBCAST47879.2020.9044558
artikkel kogumikus
809
artikkel kogumikus
Exploring sea surface heights by using airborne laser scanning
Julge, Kalev
;
Gruno, Anti
;
Ellmann, Artu
;
Liibusk, Aive
;
Oja, Tõnis
2014 IEEE/OES Baltic International Symposium : 26-29 May 2014, Tallinn, Estonia : [proceedings]
2014
/
[7] p. : ill
artikkel kogumikus
810
artikkel kogumikus
Exploring service margins for optical spectrum services
Kaeval, Kaida
;
Slyne, Frank
;
Troia, Sebastian
;
Kenny, Eoin
;
Pedreno-Manresa, Jose-Juan
;
Patri, Sai Kireet
;
Grobe, Klaus
;
Kilper, Daniel C.
;
Ruffini, Marco
;
Jervan, Gert
Proceedings European Conference on Optical Communication (ECOC 2022), 18-22 September 2022, Basel, Switzerland
2022
/
art. Mo3B.4, 4 p
https://opg.optica.org/abstract.cfm?uri=ECEOC-2022-Mo3B.4
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Optical spectrum services in Open Disaggregated Transport Networks = Optilise spektri teenused avatud lainepikkustihendus võrkudes
811
artikkel kogumikus
An Extended flatness-based controller for permanent magnet synchronous machines incorporating an event-based mechanism
Belikov, Juri
;
Kaldmäe, Arvo
;
Levron, Yoash
2019 27th Mediterranean Conference on Control and Automation (MED)
2019
/
p. 416-421 : ill
https://doi.org/10.1109/MED.2019.8798551
artikkel kogumikus
812
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Extended observer forms for submersive discrete-time systems
Simha, Ashutosh
;
Kaparin, Vadim
;
Mullari, Tanel
;
Kotta, Ülle
IEEE Transactions on Automatic Control
2023
/
p. 2684 - 2688
https://doi.org/10.1109/TAC.2023.3336253
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
813
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Extended ZVS-On/ZCS-Off range for CF-DAB converter under DCM operation for residential energy storage systems
Carvalho da Silva, Edivan Laercio
;
Cardoso, Rafael
;
Felipe, Carla Aparecida
;
Stein, Carlos Marcelo De Oliveira
;
Bellinaso, Lucas Vizzotto
;
Michels, Leandro
;
Vinnikov, Dmitri
IEEE Access
2023
/
p. 119231-119243
https://doi.org/10.1109/ACCESS.2023.3327219
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
814
artikkel kogumikus
Extended triple store used in recommender system
Luberg, Ago
;
Tammet, Tanel
;
Järv, Priit
22nd International Workshop on Database and Expert Systems Applications (DEXA) : Toulouse, France, 29 August - 2 September 2011
2011
/
p. 539-543
https://ieeexplore.ieee.org/document/6059873
artikkel kogumikus
815
artikkel kogumikus
Extensible open-source framework for translating RTL VHDL IP cores to SystemC
Saif Abrar, Syed
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Proceedings of the 2013 IEEE 16th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 8-10, 2013, Karlovy Vary, Czech Republic
2013
/
p. 112-115
artikkel kogumikus
816
artikkel ajakirjas
FaCT-LSTM : fast and compact ternary architecture for LSTM recurrent neural networks
Mirsalari, Seyed Ahmad
;
Nazari, Najmeh
;
Sinaei, Sima
;
Salehi, Mostafa E.
;
Daneshtalab, Masoud
IEEE design & test
2022
/
p. 45-53
https://doi.org/10.1109/MDAT.2021.3070245
artikkel ajakirjas
817
artikkel kogumikus
Fair and individualized project teamwork evaluation for an engineering course
Robal, Tarmo
EAEEIE 2018 : 28th EAEEIE Annual Conference (EAEEIE), September 26th to 28th, 2018
2018
/
9 p. : ill
http://doi.org/10.1109/EAEEIE.2018.8534256
artikkel kogumikus
818
artikkel kogumikus
Fall detection and activity recognition system for usage in smart work-wear [Online resource]
Leier, Mairo
;
Jervan, Gert
;
Allik, Ardo
;
Pilt, Kristjan
;
Karai, Deniss
;
Fridolin, Ivo
BEC 2018 : 2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC) : proceedings of the 16th Biennial Baltic Electronics Conference, October 8-10, 2018
2018
/
4 p.: ill
https://doi.org/10.1109/BEC.2018.8600959
artikkel kogumikus
819
artikkel ajakirjas
A family of bidirectional solid-state circuit breakers with increased safety in DC microgrids
Rahimpour, Saeed
;
Husev, Oleksandr
;
Vinnikov, Dmitri
IEEE transactions on industrial electronics
2023
/
p. 10919-10929
https://doi.org/10.1109/TIE.2023.3337493
artikkel ajakirjas
Seotud publikatsioonid
1
Common-ground energy router structure with enhanced reliability and protection = Ühise nulljuhtmega suurendatud töökindluse ja kaitsega energiaruuter
820
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Fast and fair computation offloading management in a swarm of drones using a rating-based federated learning approach
Rahbari, Dadmehr
;
Alam, Muhammad Mahtab
;
Le Moullec, Yannick
;
Jenihhin, Maksim
IEEE Access
2021
/
p. 113832-113849
https://doi.org/10.1109/ACCESS.2021.3104117
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
821
artikkel kogumikus
A fast current harmonic detection and mitigation strategy for shunt active filter
Firouzjah, Khalil Gorgani
;
Ahmadiahangar, Roya
;
Rosin, Argo
;
Häring, Tobias
2019 Electric Power Quality and Supply Reliability Conference (PQ) & 2019 Symposium on Electrical Engineering and Mechatronics (SEEM), Kärdla, Estonia, June 12-15, 2019 : proceedings
2019
/
5 p. : ill
https://doi.org/10.1109/PQ.2019.8818253
artikkel kogumikus
822
artikkel kogumikus
Fast fault simulation for extended class of faults in scan-path circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
Proceedings : Fifth IEEE International Symposium on Electronic Design, Test and Applications : DELTA 2010 : 13-15 January 2010, Ho Chi Minh City, Vietnam
2010
/
p. 14-19
https://ieeexplore.ieee.org/document/5438717
artikkel kogumikus
823
artikkel kogumikus
Fast path-oriented strategy for power system restoration
Liang, Bomiao
;
Xu, Yan
;
Wen, Fushuan
;
Palu, Ivo
;
Liu, Weijia
;
Shan, Huiyu
2019 Electric Power Quality and Supply Reliability Conference (PQ) & 2019 Symposium on Electrical Engineering and Mechatronics (SEEM), Kärdla, Estonia, June 12-15, 2019 : proceedings
2019
/
8 p
https://doi.org/10.1109/PQ.2019.8818244
artikkel kogumikus
824
artikkel kogumikus
Fast precise eddy current measurement of metals
Märtens, Olev
;
Land, Raul
;
Min, Mart
;
Rist, Marek
;
Annus, Paul
;
Pokatilov, Andrei
2018 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC 2018) : proceedings
2018
/
5 p. : ill
https://doi.org/10.1109/I2MTC.2018.8409781
artikkel kogumikus
825
artikkel kogumikus
Fast RTL fault simulation using decision diagrams and bitwise set operations
Reinsalu, Uljana
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
2011 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) : 3-5 October 2011, Vancouver, Canada
2011
/
p. 164-170
https://ieeexplore.ieee.org/document/6104440
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2248, kuvan
801 - 825
eelmine
29
30
31
32
33
34
35
36
37
38
järgmine
võtmesõna
9
1.
IEEE 1149.1
2.
IEEE 1687
3.
IEEE 802.15.6
4.
IEEE 802156
5.
IEEE 9 bus test system
6.
IEEE C37.118.1
7.
IEEE P1687
8.
IEEE Std. 1687
9.
24th IEEE International Conference on Industrial Technology 2023
TTÜ märksõna
1
1.
IEEE
märksõna
1
1.
IEEE
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT