Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

426

artikkel kogumikus

Kordsete rikete diagnostika järjestiklülitustesPuulinn, S.; Ubar, Raimund-JohannesXXIX vabariiklik üliõpilaste teaduslik- tehniline konverents 30. märtsist - 1. aprillini 1977 : ettekannete teesid1977 / lk. 43 https://www.ester.ee/record=b2449987*est

artikkel kogumikus

427

artikkel ajakirjas

Korvitäis mõtteid teadusmetsastUbar, Raimund-JohannesAkadeemia2022 / lk. 540-546 https://www.ester.ee/record=b1071914*est

artikkel ajakirjas

Seotud publikatsioonid 1

Juhuslikud jalutuskäigud teadusmetsas

428

artikkel kogumikus

Kuidas fookustada korraga kaugele ja lähedale, ehk, Kuidas ülikool saaks paremini teenida ühiskondaUbar, Raimund-JohannesTallinna Tehnikaülikooli aastaraamat 20092010 / lk. 13-15 https://www.ester.ee/record=b1212786*est

artikkel kogumikus

429

artikkel ajalehes

Kuidas grupp Tehnikaülikooli tudengeid Prantsusmaal elektroonikat õppimas käisKoort, Marko; Ubar, Raimund-JohannesTehnikaülikool1996 / 3. apr., lk. 4-5; 30. apr., lk. 5-8; 23. mai, lk. 4-6; 14. juuni, lk. 4-7 https://www.ester.ee/record=b5309277*est

artikkel ajalehes

430

artikkel ajalehes

Kuidas ülikool saaks paremini ühiskonda teenidaUbar, Raimund-JohannesPostimees2010 / 16. märts, lk. 13 https://leht.postimees.ee/237399/raimund-ubar-kuidas-ulikool-saaks-paremini-uhiskonda-teenida

artikkel ajalehes

431

artikkel ajalehes

Kultuuri funktsioon on resistanceUbar, Raimund-JohannesSirp1993 / 8. okt., lk. 3: portr https://artiklid.elnet.ee/record=b1911203*est

artikkel ajalehes

432

raamat

Kõrgema tehnilise hariduse ja tehnilise mõtte areng EestisKulbach, Valdek; Hinrikus, Hiie; Järvik, Jaan; Kanasaar, Eduard; Kilk, Aleksander; Metusala, Tiit; Mägi, Vahur; Tamm, Uljas; Tapupere, Olev; Tiismus, Hugo; Ubar, Raimund-Johannes; Velmre, Enn1988 https://www.ester.ee/record=b1243393*est

raamat

433

artikkel ajalehes

Kõrgharidus mitme tule allUbar, Raimund-JohannesMente et Manu2010 / lk. 5 : fot https://www.ester.ee/record=b1242496*est

artikkel ajalehes

434

artikkel kogumikus

Kõrgharidus on võime näha puude taga metsa : [kõne TTÜ 90. aastapäeva aktusel 17. septembril 2008 TTÜ aulas]Ubar, Raimund-JohannesTallinna Tehnikaülikool 90 : [artiklikogumik]2009 / lk. 50-55

artikkel kogumikus

435

artikkel ajalehes

Kõrgharidus on võime näha puude taga metsa : [kõne TTÜ 90. aastapäeva pidulikul koosolekul 17. sept. 2008 TTÜ aulas]Ubar, Raimund-JohannesMente et Manu2008 / 26. sept., lk. 3 : fot https://www.ester.ee/record=b1242496*est

artikkel ajalehes

436

artikkel kogumikus

Laboratory course for training "Digital design and test"Ubar, Raimund-Johannes; Tulit, Viljar; Buldas, Ahto; Saarepera, MärtFourth EUROCHIP Workshop on VLSI Design Training, 29 September to 1 October 1993, Toledo : [proceedings]1993 / p. 112-117: ill

artikkel kogumikus

437

artikkel kogumikus

Laboratory framework TEAM for investigating the dependability issues of microprocessor systemsJasnetski, Artjom; Tšertov, Anton; Ubar, Raimund-Johannes; Kruus, Helena10th European Workshop on Microelectronics Education : EWME 2014 : May 14-16, 2014, Tallinn, Estonia2014 / p. 80-83 : ill

artikkel kogumikus

438

artikkel kogumikus

Laboratory training for teaching design and test of digital circuitsJutman, Artur; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the 8th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES 2001 : Zakopane, Poland, 21-23 June 20002001 / p. 521-524 : ill https://pld.ttu.ee/~artur/papers/TestLabs-MIXDES01.pdf

artikkel kogumikus

439

artikkel ajalehes

Lapik maa ja eestlased : Euroopa esinduskonverentsil DATE'99 [Design Automation and Test in Europe] MünchenisUbar, Raimund-JohannesTehnikaülikool1999 / 5. apr., lk. 4 https://www.ester.ee/record=b5309277*est

artikkel ajalehes

440

artikkel kogumikus

Layout to logic defect analysis for hierarchical test generationJenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Pleskacz, Witold A.; Rakowski, MichalProceedings of the 2007 IEEE Workshop on Design and Diagnostic Circuits and Systems : April 11-13, 2007, Krakow, Poland2007 / p. 35-40 : ill http://dx.doi.org/10.1109/DDECS.2007.4295251

artikkel kogumikus

441

artikkel ajakirjas

Learning digital test and diagnostics via internetUbar, Raimund-Johannes; Jutman, Artur; Kruus, Margus; Orasson, Elmet; Devadze, Sergei; Wuttke, Heinz-DietrichInternational journal of online engineering2007 / 1, [9] p. : ill https://www.db-thueringen.de/servlets/MCRFileNodeServlet/dbt_derivate_00032681/iJOE_1681-1221_03_2007_1_361.pdf

artikkel ajakirjas

442

artikkel ajakirjas

Learning digital test and diagnostics via internet [Electronic resource]Ubar, Raimund-Johannes; Jutman, Artur; Kruus, Margus; Orasson, Elmet; Devadze, Sergei; Wuttke, Heinz-DietrichInternational journal of computing & information sciences2006 / 2, p. 86-96 : ill

artikkel ajakirjas

443

artikkel kogumikus

LFSR polynomial and seed selection using genetic algorithmAleksejev, E.; Jutman, Artur; Ubar, Raimund-JohannesBEC 2006 : 2006 International Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 2-4, 2006, Tallinn, Estonia : proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference2006 / p. 179-182 : ill

artikkel kogumikus

444

artikkel ajakirjas

Linear algorithms for recognizing and parsing superpositional graphsPeder, Ahti; Nestra, Härmel; Raik, Jaan; Tombak, Mati; Ubar, Raimund-JohannesFacta Universitatis [Niš]. Series electronics and energetics2011 / p. 325-339 : ill http://dx.doi.org/10.2298/FUEE1103325P

artikkel ajakirjas

445

artikkel kogumikus

Linear algorithms for testing superpositional graphsPeder, Ahti; Nestra, Härmel; Raik, Jaan; Tombak, Mati; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the Reed-Muller 2011 Workshop : May 25-26, 2011, Tuusula, Finland2011 / p. 111-118 : ill

artikkel kogumikus

446

artikkel kogumikus

Localization of single-gate design errors in combinational circuits by diagnostic information about stuck-at faultsUbar, Raimund-Johannes; Borrione, DominiqueProceedings of the 2nd International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Szczyrk, Poland, September 2-4, 19981998 / p. 73-79

artikkel kogumikus

447

artikkel kogumikus

Logic simulation and fault collapsing with shared structurally synthesized BDDsMironov, Dmitri; Ubar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan2014 19th IEEE European Test Symposium (ETS) : May 26th-30th, 2014, Paderborn, Germany : proceedings2014 / [2] p. : ill

artikkel kogumikus

448

artikkel kogumikus

Low-cost CAD software for teaching digital testUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Paomets, PriiduFirst European Workshop on Microelectronics Education, Villard de Lans, France, February 5-6, 1996 : proceedings1996 / p. 48

artikkel kogumikus

449

artikkel kogumikus

Low-cost CAD system for teaching digital testUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Paomets, Priidu; Ivask, Eero; Jervan, Gert; Markus, AnttiMicroelectronics education : proceedings of the European Workshop, Grenoble, France, 5-6 Feb 19961996 / p. 185-188

artikkel kogumikus

450

artikkel kogumikus

Lower bounds of the size of shared structurally synthesized BDDsUbar, Raimund-Johannes; Mironov, DmitriProceedings of the 2014 IEEE 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 23-25, 2014, Warsaw, Poland2014 / p. 77-82 : ill

artikkel kogumikus

Ubar, Raimund-Johannes (autor)

teaviku laadid

CV 61

autor 57

tema kohta 28

märksõna 1