prindi

Calculation of probabilistic testability measures for digital circuits with Structurally Synthesized BDDs

autor
Jürimägi, Lembit
Ubar, Raimund-Johannes
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
vastutusandmed
Lembit Jürimägi, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, Jaan Raik
allikas
Microprocessors and microsystems
kirjastus/väljaandja
Elsevier
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 77
ilmumisaasta
2020
leheküljed
art. 103117, 12 p
leitav
https://doi.org/10.1016/j.micpro.2020.103117
märksõna
digitaaltehnika
diagnostika (tehnika)
rikked
testimine
elektronlülitused
võtmesõna
combinational circuits
signal probabilities
testability
fault redundancy
structurally synthesized BDDs
ISSN
0141-9331
märkused
Bibliogr.: 43 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
1.1
Scopus
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
WOS
Journal metrics at WOS
Article at WOS
kategooria (üld)
Arvutiteadus
kategooria (alam)
Arvutiteadus. Arvutivõrgud ja side
Arvutiteadus. Riistvara ja arhitektuur
Arvutiteadus. Tarkvara
Arvutiteadus. Tehisintellekt
kvartiil
Q2
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus
Jürimägi, L., Ubar, R., Jenihhin, M., Raik, J. Calculation of probabilistic testability measures for digital circuits with Structurally Synthesized BDDs // Microprocessors and microsystems (2020) vol. 77, art. 103117, 12 p. https://doi.org/10.1016/j.micpro.2020.103117