Calculation of probabilistic testability measures for digital circuits with Structurally Synthesized BDDs
vastutusandmed
Lembit Jürimägi, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, Jaan Raik
allikas
kirjastus/väljaandja
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 77
ilmumisaasta
leheküljed
art. 103117, 12 p
ISSN
0141-9331
märkused
Bibliogr.: 43 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
keel
inglise
klassifikaator
kvartiil
kategooria (üld)
TTÜ struktuuriüksus
Jürimägi, L., Ubar, R., Jenihhin, M., Raik, J. Calculation of probabilistic testability measures for digital circuits with Structurally Synthesized BDDs // Microprocessors and microsystems (2020) vol. 77, art. 103117, 12 p.