Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

51

artikkel kogumikus

Digital techniques in magnetic measurementsRipka, Pavel; Kašpar, Petr; Roztocil, Jaroslav; Platil, AntoninBEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings1996 / p. 153-154: ill

artikkel kogumikus

52

artikkel kogumikus

Distance-learning tools for digital design and test issuesJutman, Artur; Kruus, Margus; Sudnitsõn, Aleksander; Ubar, Raimund-JohannesIT+SE'2002 : Information Tec[h]nologies in Science, Education, Telecommunication, Business : proceedings = Информационные технологии в науке, образовании, телекоммуникации, бизнесе, Украина, Крым, Ялта-Гурзуф, 20-30 мая 2002 года : труды2002 / p. 269-272 : ill

artikkel kogumikus

53

artikkel kogumikus

Double phase fault collapsing with linear complexity in digital circuitsUbar, Raimund-Johannes; Jürimägi, Lembit; Orasson, Elmet; Josifovska, Galina; Oyeniran, Adeboye StephenDSD 2015 : 18th Euromicro Conference on Digital Systems Design : 26-28 August 2015, Funchal, Madeira, Portugal2015 / p. 700-705 : ill

artikkel kogumikus

54

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Effect of keysight 3458A jitter on precision of phase difference measurementPokatilov, Andrei; Kübarsepp, Toomas; Vabson, ViktorIEEE transactions on instrumentation and measurement2016 / p. 2595-2600 : ill https://doi.org/10.1109/TIM.2016.2593965 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

55

artikkel kogumikus

E-learning tool and excercises for teaching digital testUbar, Raimund-Johannes; Orasson, ElmetProceedings of the 2nd IEEE Conference on Signals, Systems, Decision and Information Technology : Sousse, Tunisia, 20032003 / [6] p. : ill https://pld.ttu.ee/dildis/publications/E-Learning%20tool%20and%20Excercises.pdf

artikkel kogumikus

56

artikkel kogumikus

E-learning tools for digital testDevadze, Sergei; Gorjachev, R.; Jutman, Artur; Orasson, Elmet; Rosin, Vjatšeslav; Ubar, Raimund-JohannesProc. III International Conference "Distance Learning - Educational Sphere of XXI Century" : Minsk, Belorussia, 20032003 / p. 336-342

artikkel kogumikus

57

artikkel kogumikus

Embedded diagnosis in digital systemsUbar, Raimund-Johannes; Kostin, Sergei; Raik, Jaan2008 26th International Conference on Microelectronics : Niš, Serbia, 11-14 May 2008 : proceedings. Vol. 22008 / p. 421-424 : ill

artikkel kogumikus

58

artikkel kogumikus

Embedded diagnosis in digital systemsKostin, SergeiInfo- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja2008 / p. 81-84 : ill

artikkel kogumikus

59

artikkel ajakirjas

Embedded fault diagnosis in digital systems with BISTUbar, Raimund-Johannes; Kostin, Sergei; Raik, JaanMicroprocessors and microsystems2008 / 5/6, p. 279-287 : ill

artikkel ajakirjas

60

artikkel ajakirjas

Environment for the analysis of functional self-test quality in digital systemsUbar, Raimund-Johannes; Kostin, Sergei; Kruus, Helena; Aarna, Margit; Devadze, SergeiProceedings of the Estonian Academy of Sciences2014 / p. 151-162 : ill https://artiklid.elnet.ee/record=b2673964*est

artikkel ajakirjas

61

artikkel kogumikus

Equivalent transformations of structurally synthesized BDDs and applicationsJürimägi, Lembit; Ubar, Raimund-Johannes; Viies, Vladimir2019 8th Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO)2019 / 6 p. : ill https://doi.org/10.1109/MECO.2019.8760283

artikkel kogumikus

62

artikkel ajalehes

Estonia huku uurimine jätkub, kuigi valitsus pole lisaraha veel eraldanud [Võrguväljaanne]Linnart, Marterr.ee2022 Estonia huku uurimine jätkub, kuigi valitsus pole lisaraha veel eraldanud

artikkel ajalehes

63

artikkel ajakirjas

EUROCHIP - kursus digitaalsüsteemide kõrgtaseme sünteesist : [Leuven, Belgia : aug.-sept.]Tammemäe, KalleArvutustehnika ja Andmetöötlus1994 / 11, lk. 15-21

artikkel ajakirjas

64

artikkel kogumikus

Evaluation of the latency components in MPEG-4 DVB-T systemÄniline, JannoInfo- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum2007 / lk. 77-80

artikkel kogumikus

65

artikkel kogumikus

Fast RTL fault simulation using decision diagrams and bitwise set operationsReinsalu, Uljana; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Ellervee, Peeter2011 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) : 3-5 October 2011, Vancouver, Canada2011 / p. 164-170 https://ieeexplore.ieee.org/document/6104440

artikkel kogumikus

66

artikkel kogumikus

Fault model and test synthesis for RISC-processorsUbar, Raimund-Johannes; Markus, Antti; Jervan, Gert; Raik, JaanBEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings1996 / p. 229-232: ill

artikkel kogumikus

67

artikkel kogumikus

Fault modeling and diagnosis in digital systemsUbar, Raimund-JohannesCREDES Summer School : Dependable Systems Design : handouts2011 / p. 91-106 : ill

artikkel kogumikus

68

dissertatsioon

Fault simulation and code coverage analysis of RTL designs using high-level decision diagrams = Rikete simuleerimine ja koodikatte analüüs register-siirde tasemel kasutades kõrgtaseme otsustusdiagrammeReinsalu, Uljana2013 https://www.ester.ee/record=b2963595*est

dissertatsioon

69

dissertatsioon

Fault simulation of digital systems = Digitaalsüsteemide rikete simuleerimineDevadze, Sergei2009 https://digi.lib.ttu.ee/i/?445 https://www.ester.ee/record=b2508727*est

dissertatsioon

70

artikkel kogumikus

Foreword to the 12th IEEE DDECS SymposiumPliva, Zdenek; Manhaeve, Hans; Renovell, Michel; Novak, Ondrej; Ubar, Raimund-Johannes; Drabkova, JindraProceedings of the 2009 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 15-17, 2009, Liberec, Czech Republic2009 / p. iii http://dx.doi.org/10.1109/DDECS.2009.5012081

artikkel kogumikus

71

dissertatsioon

Formal verification and error correction on high-level decision diagrams = Formaalne verifitseerimine ja vigade parandamine kõrgtasemelistel otsustusdiagrammidelKarputkin, Anton2012

dissertatsioon

72

artikkel kogumikus

FPGA based fault emulation of synchronous sequential circuitsEllervee, Peeter; Raik, Jaan; Tihhomirov, Valentin; Ubar, Raimund-JohannesProceedings [of] 22nd NORCHIP Conference : Oslo, Norway, 8-9 November 20042004 / p. 59-62 https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/1423822

artikkel kogumikus

73

artikkel kogumikus

Functional level test set generation methodsUbar, Raimund-JohannesProceedings of the 12th Conference on Fault-Tolerant Systems and Diagnostics, Prague, Czechoslovakia, September, 19891989 / p. 46-55

artikkel kogumikus

74

artikkel ajakirjas

Functional self-test of high-performance pipe-lined signal processing architecturesGorev, Maksim; Ubar, Raimund-Johannes; Ellervee, Peeter; Devadze, Sergei; Raik, Jaan; Min, MartMicroprocessors and microsystems2015 / p. 909-918 : ill http://dx.doi.org/10.1016/j.micpro.2014.11.002

artikkel ajakirjas

75

artikkel kogumikus

Functional specification and testing of digital systemsUbar, Raimund-JohannesMultimicroprocessor systems: Proceedings of the 3rd Symposium, Stralsund, oct. 16-20, 1989, Vol 11989 / p. 207-217

artikkel kogumikus

digitaaltehnika (märksõna)

teaviku laadid

märksõna 1