Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
digitaaltehnika (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
180
Vaata veel..
(1/1)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(180)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
A tool for random test generation targeting high diagnostic resolution
Osimiry, Emmanuel Ovie
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC 2016 : 2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 15th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 3-5, 2016, Tallinn, Estonia
2016
/
p. 79-82 : ill
http://www.ester.ee/record=b2150914*est
artikkel kogumikus
2
dissertatsioon
AC measurement converters : analog and digital solutions
Märtens, Olev
2000
http://www.ester.ee/record=b1707866*est
dissertatsioon
3
artikkel kogumikus
Algorithms for hierarchical fault simulation in digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Klüver, B.
Proceedings of the 10th International Conference : Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES 2003 : Lodz, Poland, 26-28 June 2003
2003
/
p. 530-535 : ill
artikkel kogumikus
4
artikkel kogumikus
Alternative graph based test design in digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of 11. NORCHIP seminar, Trondheim, Nov. 9-10, 1993
1993
/
p. 48-62
artikkel kogumikus
5
artikkel kogumikus
Alternative graphs and test pattern design in digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
Proc. of the 6th Workshop on New Directions for Testing, Montreal, Canada, May 20-22, 1992
1992
artikkel kogumikus
6
artikkel kogumikus
An educational environment for digital testing : hardware, tools, and web-based runtime platform
Jutman, Artur
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Vislogubov, Vladislav
Proceedings : DSD'2005 : 8th Euromicro Conference on Digital System Design : Architectures, Methods and Tools : Porto, Portugal, August 30 - September 3, 2005
2005
/
p. 412-419 : ill
https://www.researchgate.net/profile/Artur-Jutman/publication/220880167_An_Educational_Environment_for_Digital_Testing_Hardware_Tools_and_Web-Based_Runtime_Platform/links/02e7e53c3c71b0b2a7000000/An-Educational-Environment-for-Digital-Testing-Hardware-Tools-and-Web-Based-Runtime-Platform.pdf
artikkel kogumikus
7
artikkel kogumikus
Applying FPGA partial reconfiguration for digital system simulation
Arhipov, Anton
;
Ellervee, Peeter
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja
2008
/
p. 145-148 : ill
artikkel kogumikus
8
artikkel kogumikus
Asynchronous e-learning resources for hardware design issues
Jutman, Artur
;
Sudnitsõn, Aleksander
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
Proceedings of the International Conference on Computer Systems and Technologies (e-learning) : CompSysTech'04 : Rousse, Bulgaria, 17-18 June
2004
/
p. IV.11-1 - IV.11-6 : ill
https://www.researchgate.net/publication/234797327_Asynchronous_e-learning_resources_for_hardware_design_issues
artikkel kogumikus
9
artikkel kogumikus
At-speed on-chip diagnosis of board-level interconnect faults
Jutman, Artur
Ninth IEEE European Test Symposium : ETS 2004 : 23-26 May 2004, Corsica, France : proceedings
2004
/
p. 2-7 : ill
https://www.researchgate.net/publication/4098807_At-speed_on-chip_diagnosis_of_board-level_interconnect_faults
artikkel kogumikus
10
dissertatsioon
At-speed testing and test quality evaluation for high-performance pipelined systems Töökiirusel testimine ja testi kvaliteedi hindamine kõrgjõudlus-konveierarhitektuuriga süsteemidele
Gorev, Maksim
2015
https://digi.lib.ttu.ee/i/?3953
dissertatsioon
11
artikkel kogumikus
Automated correction of design errors by edge redirection on high-level decision diagrams
Karputkin, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Tombak, Mati
;
Raik, Jaan
13th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 2012
2012
/
p. 686-693 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/6113980
artikkel kogumikus
12
artikkel kogumikus
Automated test bench generation for high-level synthesis flow ABELITE
Viilukas, Taavi
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Baranov, Samary
Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2011) : Sevastopol, Ukraine, September 9-12, 2011
2011
/
p. 13-16 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/6116601
artikkel kogumikus
13
artikkel kogumikus
Back-traced deductive-parallel fault simulation for digital systems
Hahanov, Vladimir
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Hyduke, Stanley
Proceedings : Euromicro Symposium on Digital System Design : Belek-Antalya, Turkey, September 1st to 6th, 2003
2003
/
p. 370-377 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/1231969
artikkel kogumikus
14
artikkel kogumikus
Berechnung von tests für die Fehlerdiagnose in Digitalsystem
Ubar, Raimund-Johannes
Internationales wissenschaftliches Kolloquium, 21. 1. November bis 5. November 1976, H. 2: Vortragsreihe A 2: Entwurf, Analyse und Einsatz von informationsverarbeitenden Systemen: IWK
1976
/
p. [?]
artikkel kogumikus
15
artikkel kogumikus
Bringing research issues into lab scenarios on the example of SoC testing [Electronic resource]
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jutman, Artur
;
Devadze, Sergei
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
International Conference on Engineering Education - ICEE 2007 : September 3-7, 2007, Coimbra, Portugal
2007
/
[7] p. : ill. [CD-ROM]
http://icee2007.dei.uc.pt/proceedings/papers/429.pdf
artikkel kogumikus
16
artikkel kogumikus
Built-in self diagnosis with multiple signature analyzers in digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
Proceedings of the 9th IEEE Latin-American Test Workshop : LATW2008 : February 17-20, 2008, Puebla, Mexico
2008
/
p. 29-34 : ill
artikkel kogumikus
17
artikkel kogumikus
CAD für Digitaltechnik - eine Programmfamilie für den Entwurf von Testmustern zum Test von Digitalschaltungen
Ubar, Raimund-Johannes
IBM Hochschulkongress '92: Offene Grenzen - offene Systeme, Dresden, 30.09-2.10.1992
1992
/
S.IV9 1-14
artikkel kogumikus
18
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Calculation of probabilistic testability measures for digital circuits with Structurally Synthesized BDDs
Jürimägi, Lembit
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Microprocessors and microsystems
2020
/
art. 103117, 12 p
https://doi.org/10.1016/j.micpro.2020.103117
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
19
artikkel ajakirjas
Combining functional and structural approaches in test generation for digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
Microelectronics reliability
1998
/
3, p. 317-329 : ill
artikkel ajakirjas
20
artikkel kogumikus
Comparison of two approaches to improve functional BIST fault coverage
Kostin, Sergei
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Gorev, Maksim
;
Mägi, Gunnar
BEC 2014 : 2014 14th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 14th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 6-8, 2014, Tallinn, Estonia
2014
/
p. 105-108 : ill
artikkel kogumikus
21
artikkel kogumikus
Conditional fault collapsing in digital circuits with shared structurally synthesized BDDs [Online resource]
Jürimägi, Lembit
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC 2018 : 2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC) : proceedings of the 16th Biennial Baltic Electronics Conference, October 8-10, 2018
2018
/
4 p. : ill
https://doi.org/10.1109/BEC.2018.8600967
artikkel kogumikus
22
artikkel ajakirjas
Decision diagrams - from a mathematical notion to engineering applications
Stankovic, Radomir S.
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Astola, Jaakko
Facta Universitatis [Niš]. Series electronics and energetics
2011
/
p. 281-301 : ill
http://dx.doi.org/10.2298/FUEE1103281S
artikkel ajakirjas
23
artikkel kogumikus
Decision diagrams and digital test
Ubar, Raimund-Johannes
ECMS 2003 : 6th International Workshop on Electronics, Control, Measurment and Signals : Liberec, Czechia, June 2-4, 2003
2003
/
p. 266-273 : ill
http://www.midem-drustvo.si/Journal%20papers/MIDEM_35(2005)4p187.pdf
artikkel kogumikus
24
artikkel kogumikus
Deductive fault simulation on structurally synthesized BDDs
Aarna, Margit
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
BEC 2004 : Baltic Electronics Conference : Post-Graduate Student Session : Tallinn University of Technology, October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia
2004
/
p. 11 : ill
artikkel kogumikus
25
artikkel ajakirjas
Defect-oriented mixed-level fault simulation in digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Ivask, Eero
;
Brik, Marina
Facta Universitatis [Niš]. Series electronics and energetics
2002
/
1, April, p. 123-136 : ill
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 180, kuvan
1 - 25
eelmine
1
2
3
4
5
6
7
8
järgmine
märksõna
1
1.
digitaaltehnika
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT