Otsing - TalTech teadusportaal

Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English

Publikatsioonid

Publikatsioonid

Otsing

Valitud kirjed 0

Velmre, Enn (TTÜ autor)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

Kirjeid leitud 175
Vaata veel.. (3/142)
Ekspordi

ekspordi kõik päringu tulemused (175)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
76

artikkel ajakirjas

Numerical modeling of the electrothermal transient process in diode structures based on direct-cap-semiconductorsVelmre, Enn; Freidin, BorisPhysica status solidi. A, Applied research1983 / p. K131-K134 https://www.ester.ee/record=b1562026*est

artikkel ajakirjas
77

artikkel ajakirjas

Numerical simulation of a forward-based p-i-n structure with band-to-band Auger recombinationFreidin, Boris; Velmre, EnnElectronics letters : an international publication1978 / p. 701-703 https://www.ester.ee/record=b2180432*est

artikkel ajakirjas
78

artikkel kogumikus

Numerical simulation of a silicon carbide diodeVelmre, Enn; Udal, AndresBEC : Baltic Electronics Conference : proceedings of the 4th Biennial Conference, October 9-14, 1994, Tallinn (Estonia). 21994 / p. 559-566: ill https://www.ester.ee/record=b2150914*est

artikkel kogumikus
79

artikkel kogumikus

Numerical simulation of electrothermal effects in ESD protection devicesHellstrom, S.; Freidin, Boris; Velmre, Enn; Udal, AndresTechn. Dig. of the 3rd European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 1992, Oct. 5-8, Schwabisch Gmünd, Germany1992

artikkel kogumikus
80

artikkel kogumikus

Numerical simulation of electrothermal interactions in semiconductors under electrostatic energy pulse conditionsFreidin, Boris; Velmre, Enn; Udal, AndresTechn. Dig. of International Workshop on Computational Electronics, 1992 May 28-29, Beckman Institute, Univ.of Illinois at Urbana Champain, USA1992

artikkel kogumikus
81

artikkel ajakirjas

Pooljuhid läbi aegadeVelmre, EnnHorisont1974 / lk. 15-19 : ill.; 7 lk. 26-28 : ill.; 9 lk. 24-27 https://www.digar.ee/arhiiv/et/perioodika/69737 https://www.digar.ee/arhiiv/et/perioodika/69744 https://www.ester.ee/record=b1072243*est https://www.digar.ee/arhiiv/et/perioodika/69745

artikkel ajakirjas
82

artikkel ajakirjas

Power diode transicent characteristics modeling in inductive load circuitsFreidin, Boris; Velmre, Enn; Udal, AndresThe Bug Exterminator (USA)1991 / 3, p. 1-5: fig

artikkel ajakirjas
83

artikkel kogumikus

Quantum mechanical transforms between [hii]- and [kapa]-space as a signal processing problemUdal, Andres; Kukk, Vello; Velmre, Enn; Klopov, MihhailBEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 11th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology : October 6-8, 2008, Tallinn, Estonia2008 / p. 71-74 : ill

artikkel kogumikus
84

artikkel ajakirjas

Raamatu tekkeloostVelmre, EnnElektriala2022 / lk. 27 https://www.ester.ee/record=b1240496*est

artikkel ajakirjas
Seotud publikatsioonid 1
- Tallinna kaupmehepojast füüsikaklassikuks : Thomas Johann Seebeck 1770-1831
85

artikkel kogumikus

SaateksVelmre, EnnTallinna kaupmehepojast füüsikaklassikuks : Thomas Johann Seebeck 1770-18312022 / lk. 13-17 https://www.ester.ee/record=b5519213*est

artikkel kogumikus
86

artikkel kogumikus

SiC-diode forward surge current failure mechanisms : experiment and simulationVelmre, Enn; Udal, AndresESREF'97 : proceedings of the 8th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Oct. 7-10, 1997, Bordeaux, France1997 / p. 1671-1674

artikkel kogumikus
87

artikkel ajakirjas

SiC-diodes forward surge current failure mechanisms : experiment and simulationUdal, Andres; Velmre, EnnMicroelectronics and reliability1997 / 10/11, p. 1671-1674

artikkel ajakirjas
88

artikkel kogumikus

Study of radiative recombination influence in GaN and GaAs bipolar transistor structuresVelmre, Enn; Udal, Andres; Verbitski, IrinaBEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia2004 / p. 59-62 : ill

artikkel kogumikus
89

artikkel kogumikus

Tallinna kaupmehe pojast füüsikaklassikuks. Thomas Johann Seebeck (1770-1831)Velmre, EnnVana Tallinn. XXIII (XXVII)2012 / lk. 274-286 : ill

artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid 2
- Tallinna kaupmehepojast füüsika klassikuks
- Monograafia kuulsaimast Eesti loodusteadlasest
90

raamat

Tallinna kaupmehepojast füüsikaklassikuks : Thomas Johann Seebeck 1770-1831Velmre, Enn2022 https://www.ester.ee/record=b5519213*est

raamat
Seotud publikatsioonid 2
- Raamatu tekkeloost
- Ilmunud on monograafia ühest kuulsaimast Eesti juurtega loodusteadlasest
91

raamat

TEA entsüklopeedia2012 https://www.ester.ee/record=b2869027*est

raamat
92

raamat

TEA entsüklopeedia2011 https://www.ester.ee/record=b2666688*est

raamat
93

raamat

TEA entsüklopeedia2011 https://www.ester.ee/record=b2712813*est

raamat
94

artikkel kogumikus

Termoelektri avastaja Thomas Johann Seebeck : [ettekanne rahvusvahelisel seminaril 11. mail 2007 TTÜs]Velmre, EnnTallinna Tehnikaülikooli aastaraamat 20072008 / lk. 335-339

artikkel kogumikus
95

artikkel kogumikus

The experimental results of reverse recovery effects in power fastrecovery diodes analyzed by numerical modelVelmre, Enn; Udal, Andres; Vaher, G.T.; Tarma, MatiProceedings International AEGEAN Conference on Electrical Machines and Power Electronics, Kusadasi 27-29 May, 19921992 / p. 738-743: fig

artikkel kogumikus
96

artikkel kogumikus

Thermopower measurements in 4H-SiC and Theoretical calculations considering the phonon drag effectGrivickas, V.; Stölzer, M.; Velmre, Enn; Udal, Andres; Grivickas, P.; Syväjärvi, M.; Yakimova, R.; Bikbajevas, V.Abstracts of the 3rd European Conference on Silicon Carbide and Related Materials : ECSCRM'2000 : Sept. 3-7, 2000, Kloster Banz, Germany2000 / p. 144

artikkel kogumikus
97

artikkel kogumikus

Thermopower measurements in 4H-SiC and theoretical calculations considering the phonon drag effectGrivickas, V.; Stölzer, M.; Velmre, Enn; Udal, Andres; Grivickas, P.; Syväjärvi, M.; Yakimova, R.; Bikbajevas, V.Silicon Carbide and Related Materials : ECSCRM2000 : proceedings of the 3rd European Conference on Silicon Carbide and Related Materials : Kloster Banz, Germany, September 20002001 / p. 491-494 : ill https://www.researchgate.net/publication/240833914_Thermopower_Measurements_in_4H-SiC_and_Theoretical_Calculations_Considering_the_Phonon_Drag_Effect

artikkel kogumikus
98

artikkel ajakirjas

Thomas J. Seebeck 250 : tänased mikro- ja nanoelektroonika lahendused toetuvad tuntumaile Eestis sündinud täppisteadlaseleHärmat, KarinMente et Manu2020 / lk. 64-65 : ill https://www.ttu.ee/public/m/mente-et-manu/MM_01_2020/mobile/index.html https://www.ester.ee/record=b1242496*est

artikkel ajakirjas
99

artikkel ajakirjas

Thomas J. Seebeck 250 : tänased mikro- ja nanoelektroonika lahendused toetuvad tuntumaile Eestis sündinud täppisteadlaseleHärmat, KarinElektriala2020 / lk. 24-25 http://www.ester.ee/record=b1240496*est

artikkel ajakirjas
100

raamat

Thomas Johann Seebeck (1770-1831)2007 http://www.ester.ee/record=b2285820*est

raamat

Kirjeid leitud 175, kuvan 76 - 100

eelmine
1
2
3
4
5
6
7
järgmine

vaste

reasta

Otsing
Valikud 0

ilmumisaasta

autor

TTÜ struktuuriüksus

märksõna

seeria-sari

tema kohta

võtmesõna

TalTech Raamatukogu

Akadeemia tee 1

13519

TalTech koduleht TalTech Raamatukogu koduleht Digikogu Digiteek Teadusandmed

6203551

data@taltech.ee

TalTech Raamatukogu