Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
EPR (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
5
Vaata veel..
(1/1)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(5)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
Interaction of point defects with impurities in the Si-SiO2 system and its influence on the interface properties
Kropman, Daniel
;
Mellikov, Enn
;
Kärner, Tiit
;
Heinmaa, Ivo
;
Laas, Tõnu
;
Londos, Charalampos
;
Misiuk, Andrzej
Solid state phenomena
2011
/
p. 263-266
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0040609009014564
artikkel ajakirjas
2
artikkel ajakirjas
Interaction of point defects with impurities in the Si-SiO2 system and its influence on the interface properties
Kropman, Daniel
;
Kärner, Tiit
;
Dolgov, Sergei
;
Heinmaa, Ivo
;
Laas, Tõnu
;
Londos, Charalampos
Physica status solidi (c)
2011
/
p. 694-696 : ill
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0040609009014564
artikkel ajakirjas
3
artikkel ajakirjas
Stress relaxation mechanism by strain in the Si-SiO2 system and its influence on the interface properties
Kropman, Daniel
;
Mellikov, Enn
;
Kärner, Tiit
;
Laas, Tõnu
;
Medvid, Arthur
;
Onufrijevs, Pavels
;
Dauksta, Edvins
Solid state phenomena
2011
/
p. 259-262
artikkel ajakirjas
4
artikkel kogumikus
The complementary use of UV, EPR and SEC to study the structural changes of humic substances during wood waste composting
Bikovens, O.
;
Lepane, Viia
;
Makarõtševa, Natalja
;
Dizhbite, T.
;
Telysheva, G.
Functions of natural organic matter in changing environment
2013
/
p. 113-117
artikkel kogumikus
5
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Understanding and control of stress at Si-SiO2 interface
Kropman, Daniel
;
Seeman, Viktor
;
Medvids, Arturs
;
Onufrijevs, Pavels
;
Vitusevich, Svetlana
;
Mikli, Valdek
Key engineering materials
2020
/
p. 291−296
https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.850.291
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Kirjeid leitud 5, kuvan
1 - 5
võtmesõna
1
1.
EPR
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT