Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

51

artikkel kogumikus

Mikroprozessorsystem zur Steuerung über zweimotorigen ElektroantriebesLaugis, Juhan; Pettai, Elmo; Oorn, Hillar10. Internationale Fachtagung Industrielle Automatisierung - Automatisierte Antriebe : 14. Februar bis 16. Februar 1989 in Karl-Marx-Stadt1989 / S. 72-75

artikkel kogumikus

52

artikkel ajakirjas

Mikroprotsessor Tehnikaülikoolist transistori 50. sünnipäevaksUbar, Raimund-JohannesHorisont1997 / 8, lk. 10-11: ill https://artiklid.elnet.ee/record=b2325971*est

artikkel ajakirjas

53

artikkel ajakirjas

Mikroprotsessori ajaloostToomsalu, ArvoArvutimaailm1995 / 1, lk. 38-40; 2, lk. 28-30 : ill

artikkel ajakirjas

54

raamat

Mikroprotsessori K580 käsustik koos kasutamisjuhisega : abimaterjal laboratoorsete tööde sooritamiseks1988 https://www.ester.ee/record=b1232546*est

raamat

55

raamat

Mikroprotsessori K580 käsustik koos kasutamisjuhistega : abimaterjal laboratoorsete tööde sooritamiseks1990 https://www.ester.ee/record=b1250156*est

raamat

56

artikkel kogumikus

Mikroprotsessorite kasutamisest elektrisüsteemide kateedri õppelaboratooriumitesLelumees, Heino; Tammoja, HeikiArvutite ja tehniliste vahendite kasutamine õppetöös : TPI 50. aastapäevale pühendatud teaduslik-metoodilise konverentsi, 26.-27. märtsil : ettekannete teesid1986 / lk. 77-78 https://www.ester.ee/record=b1206593*est

artikkel kogumikus

57

raamat

Mikroprotsessorsüsteemid : kursuseprojekti juhendmaterjalToomsalu, Arvo1998 https://www.ester.ee/record=b1061287*est

raamat

58

raamat

Mikroprotsessorsüsteemid : kursuseprojekti metoodiline juhendToomsalu, Arvo1996 https://www.ester.ee/record=b1619347*est

raamat

59

artikkel ajakirjas

Mikroprotsessorsüsteemide programmeerimineMärtin, Kaarel; Mõtus, LeoTehnika ja Tootmine1985 / lk. 11-13 https://www.ester.ee/record=b1073047*est

artikkel ajakirjas

60

raamat

Mikroprotsessorsüsteemide projekteerimine : laboratoorsete tööde juhend1992 https://www.ester.ee/record=b1061875*est

raamat

61

raamat

MikroprotsessortehnikaLehtla, Tõnu; Kulmar, Lembit1995 https://www.ester.ee/record=b1054894*est

raamat

62

artikkel ajalehes

Mikroprotsessortehnika ja tehniline progressKeevallik, AndresRahva Hääl1984 / lk. [?] https://www.ester.ee/record=b1072826*est

artikkel ajalehes

63

artikkel kogumikus

Minimization of the high-level fault model for microprocessor control parts [Online resource]Ubar, Raimund-Johannes; Oyeniran, Adeboye Stephen; Medaiyese, OlusijiBEC 2018 : 2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC) : proceedings of the 16th Biennial Baltic Electronics Conference, October 8-10, 20182018 / 4 p.: ill https://doi.org/10.1109/BEC.2018.8600980

artikkel kogumikus

64

artikkel kogumikus

Mixed-level identification of fault redundancy in microprocessorsOyeniran, Adeboye Stephen; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Gürsoy, Cemil Cem; Raik, JaanLATS 2019 : 20th IEEE Latin American Test Symposium : Santiago, Chile, March 11th - 13th 20192019 / 6 p. : ill https://doi.org/10.1109/LATW.2019.8704591

artikkel kogumikus

65

artikkel kogumikus

ML-based online design error localization for RISC-V implementationsSelg, Hardi; Jenihhin, Maksim; Ellervee, Peeter; Raik, Jaan2023 IEEE 29th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) : IOLTS 2023 : July 3rd-5th, 2023, Platanias, Chania (Crete), Greece : proceedings2023 / 7 p. https://doi.org/10.1109/IOLTS59296.2023.10224864

artikkel kogumikus

66

artikkel kogumikus

Modeling microprocessor faults on high-level decision diagrams [Electronic resource]Ubar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Jutman, Artur; Jenihhin, Maksim; Istenberg, Martin; Wuttke, Heinz-DietrichDSN 2008 : supplemental : 2008 IEEE International Conference on Dependable Systems & Networks With FTCS & DCC (DSN) : June 24-27, 2008, Anchorage, Alaska2008 / p. C17-C22 : ill. [CD-ROM] https://webhost.laas.fr/TSF/WDSN08/2ndWDSN08(LAAS)_files/Slides/WDSN08S-04-Ubar.pdf

artikkel kogumikus

67

artikkel kogumikus

Modular approach to training hardware design for modular teaching [Electronic resource]Galkin, Ilja; Laugis, JuhanEPE-PEMC 2006 : 12th International Power Electronics and Motion Control Conference : Portorož, Slovenia, August 30 - September 1, 2006 : proceedings2006 / p. 1715-1720 : ill. [CD-ROM] https://ieeexplore.ieee.org/document/4778652

artikkel kogumikus

68

artikkel kogumikus

MSP430 as an introductory training microcontrollerGalkin, Ilja2nd International Symposium "Topical Problems of Education in the Field of Electrical and Power Engineering" : Kuressaare, Estonia, January 17-22, 20052005 / p. 123-126

artikkel kogumikus

69

artikkel ajakirjas

Muutused protsessorite ja PC-de võitlustandrilTammemäe, KalleA & A1999 / 3, lk. 7-14: ill https://artiklid.elnet.ee/record=b1001307*est

artikkel ajakirjas

70

artikkel kogumikus

NeuroPIM: felxible neural accelerator for processing-in-memory architecturesBidgoli, Ali Monavari; Fattahi, Sepideh; Rezaei, Seyyed Hossein Seyyedaghaei; Modarressi, Mehdi; Daneshtalab, Masoud2023 26th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) : May 3-5, 2023, Tallin, Estonia : proceedings2023 / p. 51-56 https://doi.org/10.1109/DDECS57882.2023.10139567

artikkel kogumikus

71

artikkel kogumikus

New fault models and self-test generation for microprocessors using High-Level Decision DiagramsJasnetski, Artjom; Raik, Jaan; Tšertov, Anton; Ubar, Raimund-Johannes2015 IEEE 18th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems DDECS 2015 : 22-24 April 2015, Belgrade, Serbia : proceedings2015 / p. 251-254 : ill

artikkel kogumikus

72

artikkel kogumikus

A new measure for calculating multiple fault coverage of microprocessor self-testOyeniran, Adeboye Stephen; Odozi, Uzochukwu Eddie; Ubar, Raimund-JohannesBEC 2016 : 2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 15th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 3-5, 2016, Tallinn, Estonia2016 / p. 75-78 : ill http://www.ester.ee/record=b2150914*est

artikkel kogumikus

73

artikkel kogumikus

On automatic software-based self-test program generation based on high-Level decision diagramsJasnetski, Artjom; Ubar, Raimund-Johannes; Tšertov, AntonLATS 2016 : 17th IEEE Latin-American Test Symposium, Foz do Iguacu, Brazil, 6th-9th April 20162016 / p. 177 http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2016.7483357

artikkel kogumikus

74

artikkel kogumikus EST / artikkel kogumikus ENG

On test generation for microprocessors for extended class of functional faultsOyeniran, Adeboye Stephen; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Raik, JaanVLSI-SoC: New technology enabler : 27th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2019 Cusco, Peru, October 6–9, 2019 : Revised and Extended Selected Papers2020 / p. 21-44 https://doi.org/10.1007/978-3-030-53273-4 Conference proceedings at Scopus Article at Scopus

artikkel kogumikus EST / artikkel kogumikus ENG

75

artikkel ajakirjas

Operatsioon CRUSHToomsalu, ArvoArvutustehnika ja Andmetöötlus1997 / 9, lk. 11-13; 10, lk. 3-6

artikkel ajakirjas

mikroprotsessorid (märksõna)

teaviku laadid

märksõna 1