prindi

On test generation for microprocessors for extended class of functional faults

autor
Oyeniran, Adeboye Stephen
Ubar, Raimund-Johannes
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
vastutusandmed
Adeboye Stephen Oyeniran, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, and Jaan Raik
allikas
VLSI-SoC: New technology enabler : 27th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2019 Cusco, Peru, October 6–9, 2019 : Revised and Extended Selected Papers
ilmumiskoht
Cham
kirjastus/väljaandja
Springer Nature
ilmumisaasta
2020
leheküljed
p. 21-44
konverentsi nimetus, aeg
27th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2019, October 6–9, 2019
konverentsi toimumispaik
Cusco, Peru
leitav
https://doi.org/10.1007/978-3-030-53273-4
märksõna
mikroprotsessorid
diagnostika (tehnika)
modelleerimine (teadus)
testimine
veaavastus
Scopus
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
kvartiil
Q3
kategooria (üld)
Otsustusteadused
kategooria (alam)
Otsustusteadused. Infosüsteemid ja juhtimine
võtmesõna
microprocessor testing
high-level functional fault model
test generation
high-level fault coverage
ISSN
1868-4238
ISBN
978-3-030-53272-7
märkused
Bibliogr.: 41 ref
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus
Oyeniran, A.S., Ubar, R., Jenihhin, M., Raik, J. On test generation for microprocessors for extended class of functional faults // VLSI-SoC: New technology enabler : 27th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2019 Cusco, Peru, October 6–9, 2019 : Revised and Extended Selected Papers. Cham : Springer Nature, 2020. p. 21-44. https://doi.org/10.1007/978-3-030-53273-4