Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
testimine (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
544
Vaata veel..
(2/2)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(544)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
326
artikkel ajakirjas
Overview about low-level and high-level decision diagrams for diagnostic modeling of digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
Facta Universitatis [Niš]. Series electronics and energetics
2011
/
p. 303-324 : ill
http://dx.doi.org/10.2298/FUEE1103303U
artikkel ajakirjas
327
artikkel kogumikus
Overview about low-lewel and high-level decision diagrams for diagnostic modeling of digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the Reed-Muller 2011 Workshop : May 25-26, 2011, Tuusula, Finland
2011
/
p. 1-10 : ill
artikkel kogumikus
328
artikkel kogumikus
Overview of e-learning environment for web-based study of testing and diagnostics of digital systems
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
Microelectronics education : proceedings of the 5th European Workshop on Microelectronics Education, held in Lausanne, Switzerland, April 15-16, 2004
2004
/
p. 253-258 : ill
https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-1-4020-2651-5_41
artikkel kogumikus
329
artikkel kogumikus
Overview of e-learning environment for web-based study of testing and diagnostics of digital systems
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
5th European Workshop on Microelectronics Education - EWME 2004, Lausanne, 2004
2004
/
p. 173-176
https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-1-4020-2651-5_41
artikkel kogumikus
330
artikkel kogumikus
Parallel critical path tracing fault simulation in sequential circuits
Kõusaar, Jaak
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
Proceedings of 25th International Conference MIXED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS : MIXDES 2018 : Gdynia, Poland, June 21–23, 2018
2018
/
p. 305-310 : ill
https://doi.org/10.23919/MIXDES.2018.8436880
artikkel kogumikus
331
artikkel kogumikus
Parallel exact critical path tracing fault simulation with reduced memory requirements
Devadze, Sergei
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
4th International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscal Era : DTIS'09 : Cairo, Egypt, April 6-9, 2009
2009
/
p. 155-160 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/4938046
artikkel kogumikus
332
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Parallel pseudo-exhaustive testing of array multipliers with data-controlled segmentation
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Ubar, Raimund-Johannes
2018 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) : 27-30 May 2018, Florence, Italy : proceedings
2018
/
5 p.: ill
https://doi.org/10.1109/ISCAS.2018.8350936
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
333
artikkel kogumikus
Performance estimation of embedded applications on microcontrollers
Ruberg, Priit
;
Lass, Keijo
;
Liiv, Elvar
;
Ellervee, Peeter
2017 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS 2017): NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC 2017) : Linkoping, Sweden, 23-25 October, 2017
2017
/
p. 170-175 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/NORCHIP.2017.8124964
artikkel kogumikus
334
artikkel kogumikus
Performance testing of frost damage model by hygrothermal simulation
Ilomets, Simo
;
Kalamees, Targo
;
Raado, Lembi-Merike
Proceedings of the 5th International Building Physics Conference (IBPC) : Kyoto, Japan, May 28-31, 2012
2012
/
p. 73-80 : ill
artikkel kogumikus
335
artikkel ajakirjas
Pilvtestimisest
Leis, Paul
A & A
2010
/
3, lk. 3-4 : ill
https://artiklid.elnet.ee/record=b2183722*est
artikkel ajakirjas
336
artikkel kogumikus
Post-silicon validation of IEEE 1687 reconfigurable scan networks
Damljanovic, Aleksa
;
Jutman, Artur
;
Squillero, Giovanni
;
Tšertov, Anton
2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : proceedings
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791546
artikkel kogumikus
337
artikkel ajalehes
Prillid eelmisest sajandist viska prügikasti : [TTÜ füüsikalaboris testiti päikeseprille]
Heinsoo, Enn
Äripäev
2006
/
7. juuli, Puhkepäev, lk. 30-31
https://www.aripaev.ee/uudised/2006/07/06/prillid-eelmisest-sajandist-viska-prugikasti
artikkel ajalehes
338
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Procedure for implementing new materials to the component additive method
Mäger, Katrin Nele
;
Just, Alar
;
Schmid, Joachim
;
Werther, Norman
;
Klippel, Michael
;
Brandon, Daniel
;
Frangi, Andrea
Fire safety journal
2019
/
p. 149-160 : ill
https://doi.org/10.1016/j.firesaf.2017.09.006
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
339
artikkel kogumikus
Product platform modularization for test adapters
Sarkans, Martinš
;
Roosimölder, Lembit
OST-03 Symposium on Machine Design
2003
/
p. 100-106
artikkel kogumikus
340
artikkel kogumikus
Production quality related propagating faults of induction machines
Kudelina, Karolina
;
Asad, Bilal
;
Vaimann, Toomas
;
Rassõlkin, Anton
;
Kallaste, Ants
2020 XI International Conference on Electrical Power Drive Systems (ICEPDS), Saint-Petersburg, Russia, October 4-7, 2020
2020
/
p. 311-315 : ill
https://doi.org/10.1109/ICEPDS47235.2020.9249355
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Artificial intelligence driven approaches for fault prognostics of electrical machines using vibration spectrum analysis = Tehisintellektil põhinevad lähenemisviisid elektrimasinate rikete prognoosimiseks vibratsioonispektri analüüsi abil
341
artikkel kogumikus
Provably correct test development for timed systems
Vain, Jüri
;
Anier, Aivo
;
Halling, Evelin
Databases and information systems VIII : selected papers from the Eleventh International Baltic Conference, DB&IS 2014
2014
/
p. 289-302 : ill
artikkel kogumikus
342
artikkel kogumikus
Provably correct test generation for online testing of timed systems
Vain, Jüri
;
Anier, Aivo
;
Halling, Evelin
Databases and Information Systems : proceedings of the 11th International Baltic Conference, Baltic DB&IS 2014 : Tallinn, Estonia, 8-11 June, 2014
2014
/
p. 337-348 : ill
artikkel kogumikus
343
artikkel kogumikus
Pseudojuhuslikud bitijadad ja nende juhuslikkuse testimine
Lossmann, Eerik
;
Meister, Ants
Ringhääling 2003 : X rahvusvahelise telekommunikatsioonipäeva materjalid
2003
/
lk. 54-59 : ill
artikkel kogumikus
344
artikkel kogumikus
Quality assurance in mechanical testing laboratory by participating in proficiency test
Päärsoo, Riho
;
Veinthal, Renno
;
Peetsalu, Priidu
;
Saarna, Mart
Proceedings of the 3rd International Conference Industrial Engineering - New Challenges to SME : 25-27 April 2002, Tallinn, Estonia
2002
/
p. 242-244 : ill
artikkel kogumikus
345
artikkel kogumikus
Rail and rail weld testing
Saarna, Mart
;
Laansoo, Andres
Proceedings of the 4th International Conference Industrial Engineering - New Challenges to SME : 29-30 April 2004, Tallinn, Estonia
2004
/
p. 223-225 : ill
artikkel kogumikus
346
artikkel ajakirjas
Raytraced images for testing the reconstruction of fibre orientation distributions
Eik, Marika
;
Herrmann, Heiko
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences
2012
/
p. 128-136 : ill
artikkel ajakirjas
347
artikkel kogumikus
Recognition and analysis of the contours drawn during the Poppelreuter's test
Nõmm, Sven
;
Bardõš, Konstantin
;
Mašarov, Ilja
;
Kozhenkina, Julia
;
Toomela, Aaro
;
Toomsoo, Toomas
2016 15th IEEE International Conference on Machine Learning and Applications : 18-20 December 2016, Anaheim, California : proceedings
2016
/
p. 170-175 : ill
http://doi.org//10.1109/ICMLA.2016.0036
artikkel kogumikus
348
artikkel kogumikus
Reflection segments based robust PID controller solution for benchmark problem
Avanessov, Sergei
;
Nurges, Ülo
2014 22nd Mediterranean Conference on Control and Automation (MED) : University of Palermo, June 16-19, 2014, Palermo, Italy
2014
/
p. 1406-1411 : ill
artikkel kogumikus
349
artikkel kogumikus
Regular bridge inspection data improvement using non-destructive testing
Kušar, M.
;
Galvao, N.
;
Sein, Sander
Life cycle analysis and assessment in civil engineering: towards an integrated vision : proceedings of the Sixth International Symposium on Life-Cycle Civil Engineering (IALCCE 2018), 28-31 October 2018, Ghent, Belgium
2019
/
p. 1793-1797
https://www.taylorfrancis.com/books/9781351857574
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Development of an optimised condition assessment plan for common reinforced concrete bridges in Estonia = Optimeeritud seisukorra kontrolliplaani välja töötamine tüüpilistele Eesti raudbetoonsildadele
350
artikkel kogumikus
Replication-based deterministic testing of 2-dimensional arrays with highly interrelated cells
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
21st IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : DDECS 2018 : Budapest, Hungary 25-27 April, 2018 : proceedings
2018
/
p. 21-26 : ill
https://doi.org/10.1109/DDECS.2018.00011
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 544, kuvan
326 - 350
eelmine
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
järgmine
märksõna
1
1.
testimine
võtmesõna
1
1.
testimine
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT