Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
testimine (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
584
Vaata veel..
(2/2)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(584)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
A knowledge-based approach to the specification-based program testing
Tepandi, Jaak
Computers and artificial intelligence = Вычислительные машины и искуственный интеллект = Pocitace a umela inteligencia
1988
/
p. 39-48
https://www.ester.ee/record=b1482459*est
artikkel ajakirjas
2
artikkel kogumikus
A new measure for calculating multiple fault coverage of microprocessor self-test
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Odozi, Uzochukwu Eddie
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC 2016 : 2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 15th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 3-5, 2016, Tallinn, Estonia
2016
/
p. 75-78 : ill
http://www.ester.ee/record=b2150914*est
artikkel kogumikus
3
artikkel ajakirjas
A new testability calculation method to guide RTL test generation
Raik, Jaan
;
Nõmmeots, Tanel
;
Ubar, Raimund-Johannes
Journal of electronic testing : theory and applications
2005
/
p. 71-82 : ill
https://doi.org/10.1007/s10836-005-5288-5
artikkel ajakirjas
4
artikkel kogumikus
A proposal for optimisation of low-powered FSM testing
Brik, Marina
;
Fomina, Jelena
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of IEEE East-West Design & Test Workshop (EWDTW'05) : Odessa, Ukraine, September 15-19, 2005
2005
/
p. 15-20
artikkel kogumikus
5
artikkel kogumikus
A scalable technique to identify true critical paths in sequential circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Proceedings 2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnotics of Electronic Circuit & Systems(DDECS) : April 19-21, 2017, Dresden, Germany
2017
/
p. 152-157 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=7934553
artikkel kogumikus
6
artikkel kogumikus
A study of the toxicity of the ozonation products of phenols and chlorophenols by daphnia magna test
Trapido, Marina
;
Veressinina, Jelena
23rd Estonian Chemistry Days : abstracts of scientific conference
1997
/
p. 152
artikkel kogumikus
7
artikkel kogumikus
A synthesis-agnostic behavioral fault model for high gate-level fault coverage
Karputkin, Anton
;
Raik, Jaan
Proceedings of the 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) : 14-18 March 2016, ICC, Dresden, Germany
2016
/
p. 1124-1127 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/7459477/figures#figures
artikkel kogumikus
8
artikkel kogumikus
Abrasivity study of materials used at abrasive tests
Kulu, Priit
;
Veinthal, Renno
;
Käerdi, Helmo
;
Tarbe, Riho
Tribology 2008 : proceedings of the 9th International Tribology Conference : University of Pretoria, South Africa, 2-4 April 2008
2008
/
p. 3.4(1)-3.4(10)
artikkel kogumikus
9
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Adaptive Extended Kalman Filter position estimation based on Ultra-Wideband Active-Passive Ranging Protocol
Laadung, Taavi
;
Ulp, Sander
;
Fjodorov, Aleksei
;
Alam, Muhammad Mahtab
;
Le Moullec, Yannick
IEEE Access
2023
/
p. 92575-92588
https://doi.org/10.1109/ACCESS.2023.3308696
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
10
artikkel kogumikus
Advances in moving speaker acoustic localization for operation in distributed systems
Astapov, Sergei
;
Berdnikova, Julia
;
Preden, Jürgo-Sören
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu
2013
/
p. 9-12 : ill
artikkel kogumikus
11
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Air change efficiency of room ventilation units
Mikola, Alo
;
Rehand, Juhan
;
Kurnitski, Jarek
E3S Web of Conferences : CLIMA 2019 Congress, Bucharest, Romania, May 26-29, 2019
2019
/
art. 01017, 8 p
https://doi.org/10.1051/e3sconf/201911101017
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Seotud publikatsioonid
1
Ventilation performance in deep renovation of multifamily apartment buildings = Terviklikult renoveeritud korterelamute ventilatsioonisüsteemide toimivus
12
artikkel ajakirjas
Algorithms of functional level testability analysis for digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kuchcinski, Ktzysztof
Periodica polytechnica. Electrical engineering
1992
/
3/4, p. 295-308
artikkel ajakirjas
13
artikkel kogumikus
An approach for PSL assertion coverage analysis with high-level decision diagrams
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Shchenova, Tatjana
Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'10) : St. Petersburg, Russia, September 17-20, 2010
2010
/
p. 13-16 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/5742048
artikkel kogumikus
14
artikkel ajakirjas
An approach for verification assertions reuse 2 in RTL test pattern generation
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Viilukas, Taavi
;
Fujiwara, Hideo
Journal of Shanghai Normal University : Natural Sciences
2010
/
p. 441-447 : ill
https://www.researchgate.net/publication/240613999_An_Approach_for_Verification_Assertions_Reuse_in_RTL_Test_Pattern_Generation
artikkel ajakirjas
15
artikkel kogumikus
An approach for verification assertions reuse in RTL test pattern generation
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Fujiwara, Hideo
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Viilukas, Taavi
Digest of papers : IEEE 11th Workshop on RTL and High Level Testing : WRTLT'10 : December 5-6, 2010, Shanghai, China
2010
/
p. 107-110 : ill
artikkel kogumikus
16
artikkel kogumikus
An aspect-oriented technique to model-based test design
Sarna, Külli
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kuuenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 3.-5. oktoobril 2012, Laulasmaa
2012
/
p. 77-80
artikkel kogumikus
17
artikkel kogumikus
An educational environment for digital testing : hardware, tools, and web-based runtime platform
Jutman, Artur
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Vislogubov, Vladislav
Proceedings : DSD'2005 : 8th Euromicro Conference on Digital System Design : Architectures, Methods and Tools : Porto, Portugal, August 30 - September 3, 2005
2005
/
p. 412-419 : ill
https://www.researchgate.net/profile/Artur-Jutman/publication/220880167_An_Educational_Environment_for_Digital_Testing_Hardware_Tools_and_Web-Based_Runtime_Platform/links/02e7e53c3c71b0b2a7000000/An-Educational-Environment-for-Digital-Testing-Hardware-Tools-and-Web-Based-Runtime-Platform.pdf
artikkel kogumikus
18
artikkel kogumikus
An external test approach for network-on-a-chip switches
Raik, Jaan
;
Govind, Vineeth
;
Ubar, Raimund-Johannes
ATS '06 : Proceedings of the 15th Asian Test Symposium : November 20-23, 2006, Fukuoka, Japan
2006
/
p. 437-442 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ATS.2006.23
artikkel kogumikus
19
artikkel kogumikus
An external test approach for network-on-a-chip switches
Raik, Jaan
;
Govind, Vineeth
;
Ubar, Raimund-Johannes
2002-2011 : 20th Anniversary compendium of papers from Asian Test Symposium
2011
/
p. 185-190 : ill
artikkel kogumikus
20
artikkel kogumikus
An overview of expert system testing with remarks on distributed architecture
Parmakson, Priit
;
Tepandi, Jaak
Proc. of the 11th Int. Scientific School on Distributed Information Systems Architecture, Wroclaw, 28.Jan.-1.Feb., 1990
1990
artikkel kogumikus
21
artikkel kogumikus
Analysis of a test method for delay faults in NoC interconnects
Bengtsson, Tomas
;
Jutman, Artur
;
Kumar, Shashi
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Peng, Zebo
Proceedings of the IEEE East-West Design & Test Workshop (EWDTW'06) : Sochi, Russia, September 15-19, 2006
2006
/
p. 42-46 : ill
artikkel kogumikus
22
artikkel kogumikus
Analysis of a three-phase induction motor using the dynamic state space model
Asad, Bilal
;
Vaimann, Toomas
;
Belahcen, Anouar
17th International Symposium “Topical Problems in the Field of Electrical and Power Engineering”. Doctoral school of energy and geotechnology. III : Kuressaare, Estonia, January 15-20, 2018
2018
/
p. 65-69 : ill
http://ise.elnet.ee/record=b2950017~S2*est
artikkel kogumikus
23
artikkel kogumikus
Applicability of the energetic erosion theory to hardened steels
Kleis, Ilmar
;
Remi, Toomas
OST-03 Symposium on Machine Design
2003
/
p. 245-252 : ill
artikkel kogumikus
24
artikkel kogumikus
Application of nanoindentation for constituent phases testing in ceramic–metal composites
Hussainova, Irina
;
Jasiuk, Iwona
;
Hussainov, Medhat
Technical proceedings of the 2010 NSTI Nanotechnology Conference & Expo - Nanotech 2010. Vol. 1, Nanotechnology 2010 : Advanced materials, CNTs, Particles, Films and Composites
2010
/
p. 152-155 : ill
artikkel kogumikus
25
artikkel kogumikus
Application of sequential test set compaction to LFSR reseeding
Aleksejev, Igor
;
Jutman, Artur
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
26th Norchip Conference : Tallinn, Estonia, 17-18 November 2008 : formal proceedings
2008
/
p. 102-107 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/NORCHP.2008.4738292
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 584, kuvan
1 - 25
eelmine
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
järgmine
märksõna
1
1.
testimine
võtmesõna
1
1.
testimine
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT