Otsing - TalTech teadusportaal

Hierarchical test generation for complex digital systems with control and data processing parts (pealkiri)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Hierarchical test generation for complex digital systems with control and data processing partsUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan"Test, Assembly and Packaging" : SEMICON Technical Symposium : Singapur, May 3-6, 19991999 / p. 43-52

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1