Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
high-level test data generation (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/38)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
High-Level Combined Deterministic and Pseudo-exhuastive Test Generation for RISC Processors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2019, May 27-31, 2019, Baden-Baden, Germany : Proceedings
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791526
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
High-level functional test generation for microprocessor modules
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of 26th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES 2019 : Rzeszów, Poland, June 27 - 29, 2019
2019
/
p. 356-361 : ill
https://doi.org/10.23919/MIXDES.2019.8787131
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
38
1.
high-level test data generation
2.
behaviour level test generation
3.
high-level synthesis for test
4.
logic level and high level BDDs
5.
extreme penetration level of non synchronous generation
6.
adaptive test strategy generation
7.
automated test pattern generation
8.
automatic test case generation
9.
automatic test pattern generation
10.
automatic test program generation
11.
functional test generation
12.
highlevel test generation
13.
implementation-independent test generation
14.
offline test generation
15.
provably correct test generation
16.
test generation
17.
test generation and fault diagnosis
18.
test program generation
19.
data set generation
20.
system level test
21.
high level DD (HLDD)
22.
high level synthesis
23.
high-level control fault model
24.
high-level control faults
25.
high-level decision diagram
26.
high-level decision diagrams
27.
high-level decision diagrams (HLDD) synthesis
28.
high-level expert group on AI
29.
high-level fault coverage
30.
high-level fault model
31.
high-level fault simulation
32.
high-level functional fault model
33.
high-level synthesis
34.
High-Level Synthesis (HLS)
35.
high-speed serial link test
36.
high-dimensional data
37.
high-frequency data
38.
High-Pressure High-Temperature Spark Plasma Sintering
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT