Ubar, R., Raik, J. - TalTech teadusportaal

täiskirje prindi

Hierarchical test generation for complex digital systems with control and data processing parts

autor

Ubar, Raimund-Johannes

Raik, Jaan

vastutusandmed

R. Ubar, J. Raik

allikas

"Test, Assembly and Packaging" : SEMICON Technical Symposium : Singapur, May 3-6, 1999

ilmumiskoht

[S.l.]

kirjastus/väljaandja

SEMI

ilmumisaasta

1999

leheküljed

p. 43-52

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

digitaaltehnika

testimine

testid

Ubar, R., Raik, J. Hierarchical test generation for complex digital systems with control and data processing parts // "Test, Assembly and Packaging" : SEMICON Technical Symposium : Singapur, May 3-6, 1999. [S.l.] : SEMI, 1999. p. 43-52.