Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
integraallülitused (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
172
Vaata veel..
(1/1)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(172)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
151
artikkel ajakirjas
10th IEEE European Test Symposium
Ubar, Raimund-Johannes
;
Prinetto, Paolo
;
Raik, Jaan
IEEE journal of design & test of computers
2005
/
p. 480-481 : phot
http://dx.doi.org/10.1109/MDT.2005.106
artikkel ajakirjas
152
artikkel kogumikus
Test configurations for diagnosing faulty links in NoC switches
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Govind, Vineeth
12th IEEE European Test Symposium ETS 2007 : 20-24 May 2007, Freiburg, Germany : proceedings
2007
/
p. 29-34 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ETS.2007.41
artikkel kogumikus
153
artikkel kogumikus
Ultra fast parallel fault analysis on structurally synthesized BDDs
Ubar, Raimund-Johannes
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
12th IEEE European Test Symposium ETS 2007 : 20-24 May 2007, Freiburg, Germany : proceedings
2007
/
p. 131-136 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ETS.2007.43
artikkel kogumikus
154
artikkel kogumikus
Untestable fault identification in sequential circuits using model-checking
Raik, Jaan
;
Fujiwara, Hideo
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Krivenko, Anna
Proceedings of the 17th Asian Test Symposium ATS 2008 : November 24-27, 2008, Sapporo, Japan
2008
/
p. 21-26 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ATS.2008.22
artikkel kogumikus
155
artikkel ajakirjas
Uudne turvaline kiibitehnoloogia
Raik, Jaan
Mente et Manu
2021
/
lk. 32-33 : fot
Mente et Manu 2/2021
artikkel ajakirjas
156
artikkel ajalehes
Uuring: Eesti majanduse veduriks võib saada kuus tehnoloogiavaldkonda
Bioneer.ee
2023
Uuring: Eesti majanduse veduriks võib saada kuus tehnoloogiavaldkonda
artikkel ajalehes
157
artikkel kogumikus
VHDL design debug framework based on zamiaCAD
Tihhomirov, Valentin
;
Tšepurov, Anton
;
Saif Abrar, Syed
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
DATE 2013 : Design Automation and Test in Europe, March 18-22, 2013, Grenoble, France
2013
/
[1] p. : ill
artikkel kogumikus
158
artikkel ajalehes
Võitlus kiipides varitsevate troojalastega tõstab Eesti teadlased kilbile
Härmat, Karin
err.ee
2023
Võitlus kiipides varitsevate troojalastega tõstab Eesti teadlased kilbile
artikkel ajalehes
159
artikkel ajakirjas
XXI sajandi arvuti
Toomsalu, Arvo
A & A
2000
/
1, lk. 8-13 ; 2, lk. 8-19
https://artiklid.elnet.ee/record=b1003324*est
artikkel ajakirjas
160
artikkel kogumikus
Быстродействующие интегральные компараторы
Gurjanov, Boris
;
Tamm, Uljas
IX Всесоюзная научно-техническая конференция по микроэлектронике, г. Казань, 14-17 окт. 1980 г. : тезисы докладов
1980
/
с. 88
artikkel kogumikus
161
artikkel kogumikus
Изменение параметров интегральных схем при анализе в растровом электронном микроскопе
Meiler, Boriss
Электрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов
1986
/
с. 85-92
https://www.ester.ee/record=b1296001*est
artikkel kogumikus
162
artikkel kogumikus
Измеритель коэффициента шума интегральных усилителей
Tammet, Heinar
;
Torim, A.A.
Тезисы докладов республиканской научно-технической конференции, посвященной 80-летию со дня изобретения радио А. С. Поповым
1975
/
с. 93
https://www.ester.ee/record=b1322122*est
artikkel kogumikus
163
artikkel kogumikus
Измеритель шумов интегральных схем
Koiduste, A.
;
Tammet, Heinar
XX студенческая научно-техническая конференция вузов Прибалтийских республик, Белорусской ССР и Молдавской ССР : тезисы докладов. Часть 1
1974
/
с. 147
https://www.ester.ee/record=b1306141*est
artikkel kogumikus
164
dissertatsioon
Исследование влияния технологического микроклимата в производстве интегральных микросхем : автореферат ... кандидата технических наук (05.12.18)
Rätsep, Ülo
1983
https://www.ester.ee/record=b1522476*est
dissertatsioon
165
artikkel ajakirjas
Коэффициенное ударное ионизацеи носителей заряда в <100> арсениде галлия
Rang, Toomas
;
Puusepp, Märt
Электронная техника. Серия 2, Полупроводниковые приборы : научно-технический сборник
1987
/
с. 98-100
https://www.ester.ee/record=b2160501*est
artikkel ajakirjas
166
artikkel kogumikus
Метод исследования комплексного влияния параметров технологического микроклимата на качество полупроводниковых интегральных микросхем
Rätsep, Ülo
Тезисы докладов Республиканской научно-технической конференции "Современные методы и устройства радиоэлектронного оборудования", посвященной Дню радио. Секция: полупроводниковые приборы
1981
/
с. 81-82
https://www.ester.ee/record=b1310801*est
artikkel kogumikus
167
raamat
Методическое пособие к лабораторным работам и курсовому проектированию по дисциплине "Схемотехника ЭВМ"
1987
https://www.ester.ee/record=b1354263*est
raamat
168
artikkel kogumikus
Методы идентификации шумовых источников интегральных схем
Tammet, Heinar
Тезисы докладов республиканской научно-технической конференции, посвященной Дню радио, Таллин, 1977
1977
/
с. 87-88
https://www.ester.ee/record=b1313776*est
artikkel kogumikus
169
artikkel kogumikus
Оценка тенденции использования некоторых видов микросхем
Maltsev, Jüri
;
Ševtšenko, S.
Тезисы докладов республиканской научно-технической конференции, посвященной Дню радио. [1], Секция: Информационно-измерительная техника
1981
/
с. 25-26
https://www.ester.ee/record=b1310782~S1*est
artikkel kogumikus
170
artikkel ajakirjas
Построение тестов для неисправностей комбинационных схем на основе анализа ортогональных дизъюнктивных нормальных форм, представляемых альтернативными графами
Matrosova, A.Yu.
;
Pleshkov, A.G.
;
Ubar, Raimund-Johannes
Автоматика и телемеханика
2005
/
с. 158-174 : ил
http://mi.mathnet.ru/at1333
artikkel ajakirjas
171
artikkel kogumikus
Прогнозирование качества интегральных микросхем на основе кластеров состояний
Budarin, Vladimir
;
Rätsep, Ülo
;
Teevet, J.-T.
Методы и средства цифровой обработки сигналов
1984
/
с. 111-115
artikkel kogumikus
172
artikkel ajalehes
эффективное средство защиты от дронов-камикадзе еще только предстоит найти [Online resources]
rus.err.ee
2022
AK.Nädal: эффективное средство защиты от дронов-камикадзе еще только предстоит найти
artikkel ajalehes
Kirjeid leitud 172, kuvan
151 - 172
eelmine
1
2
3
4
5
6
7
järgmine
märksõna
1
1.
integraallülitused
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT