Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
integraallülitused (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
179
Vaata veel..
(1/1)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(179)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
151
artikkel ajalehes
Tehisintellekti kiire areng tõotab kiibitööstust põhjalikult raputada
Port, Kristjan
delfi.ee
2023
Tehisintellekti kiire areng tõotab kiibitööstust põhjalikult raputada
artikkel ajalehes
152
artikkel ajalehes
Tehnikaülikooli teadlased loovad uue põlvkonna veakindlaid kiipe
Nõges, Krõõt
Mente et Manu
2010
/
lk. 2
https://www.ester.ee/record=b1242496*est
artikkel ajalehes
153
artikkel ajalehes
Tehnikaülikooli teadlaste juhtimisel luuakse uue põlvkonna veakindlaid kiipe
Studioosus
2010
/
veebr., lk. 8
https://www.ester.ee/record=b1558644*est
artikkel ajalehes
154
artikkel ajakirjas
10th IEEE European Test Symposium
Ubar, Raimund-Johannes
;
Prinetto, Paolo
;
Raik, Jaan
IEEE journal of design & test of computers
2005
/
p. 480-481 : phot
http://dx.doi.org/10.1109/MDT.2005.106
artikkel ajakirjas
155
artikkel kogumikus
Test configurations for diagnosing faulty links in NoC switches
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Govind, Vineeth
12th IEEE European Test Symposium ETS 2007 : 20-24 May 2007, Freiburg, Germany : proceedings
2007
/
p. 29-34 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ETS.2007.41
artikkel kogumikus
156
artikkel kogumikus
Test cost minimization for hybrid BIST
Jervan, Gert
;
Peng, Zebo
;
Ubar, Raimund-Johannes
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : 25-27 October 2000, Yamanashi, Japan : proceedings
2000
/
p. 283-298 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/887168
artikkel kogumikus
157
artikkel kogumikus
Test time minimization for hybrid BIST of core-based systems
Jervan, Gert
;
Eles, Petru
;
Peng, Zebo
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
12th Asian Test Symposium (ATS 2003) : 17-19 November 2003, Xian, China
2003
/
p. 318-325 : ill
https://link.springer.com/article/10.1007/s11390-006-0907-x
artikkel kogumikus
158
artikkel kogumikus
Test time minimization for hybrid BIST with test pattern broadcasting
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Jervan, Gert
;
Peng, Zebo
IEEE NORCHIP 2003 : 21 Norchip Conference : Riga, Latvia, 10-11 November 2003 : proceedings
2003
/
p. 112-116 : ill
https://www.ida.liu.se/labs/eslab/publications/pap/db/norchip03.pdf
artikkel kogumikus
159
artikkel ajalehes
Töökindla arvutusriistvara keskuse juht Maksim Jenihhin
Jenihhin, Maksim
forte.delfi.ee
2024
Töökindla arvutusriistvara keskuse juht Maksim Jenihhin
artikkel ajalehes
160
artikkel kogumikus
Ultra fast parallel fault analysis on structurally synthesized BDDs
Ubar, Raimund-Johannes
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
12th IEEE European Test Symposium ETS 2007 : 20-24 May 2007, Freiburg, Germany : proceedings
2007
/
p. 131-136 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ETS.2007.43
artikkel kogumikus
161
artikkel kogumikus
Untestable fault identification in sequential circuits using model-checking
Raik, Jaan
;
Fujiwara, Hideo
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Krivenko, Anna
Proceedings of the 17th Asian Test Symposium ATS 2008 : November 24-27, 2008, Sapporo, Japan
2008
/
p. 21-26 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ATS.2008.22
artikkel kogumikus
162
artikkel ajakirjas
Uudne turvaline kiibitehnoloogia
Raik, Jaan
Mente et Manu
2021
/
lk. 32-33 : fot
Mente et Manu 2/2021
artikkel ajakirjas
163
artikkel ajalehes
Uuring: Eesti majanduse veduriks võib saada kuus tehnoloogiavaldkonda
Bioneer.ee
2023
Uuring: Eesti majanduse veduriks võib saada kuus tehnoloogiavaldkonda
artikkel ajalehes
164
artikkel kogumikus
VHDL design debug framework based on zamiaCAD
Tihhomirov, Valentin
;
Tšepurov, Anton
;
Saif Abrar, Syed
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
DATE 2013 : Design Automation and Test in Europe, March 18-22, 2013, Grenoble, France
2013
/
[1] p. : ill
artikkel kogumikus
165
artikkel ajalehes
Võitlus kiipides varitsevate troojalastega tõstab Eesti teadlased kilbile
Härmat, Karin
err.ee
2023
Võitlus kiipides varitsevate troojalastega tõstab Eesti teadlased kilbile
artikkel ajalehes
166
artikkel ajakirjas
XXI sajandi arvuti
Toomsalu, Arvo
A & A
2000
/
1, lk. 8-13 ; 2, lk. 8-19
https://artiklid.elnet.ee/record=b1003324*est
artikkel ajakirjas
167
artikkel kogumikus
Быстродействующие интегральные компараторы
Gurjanov, Boris
;
Tamm, Uljas
IX Всесоюзная научно-техническая конференция по микроэлектронике, г. Казань, 14-17 окт. 1980 г. : тезисы докладов
1980
/
с. 88
artikkel kogumikus
168
artikkel kogumikus
Изменение параметров интегральных схем при анализе в растровом электронном микроскопе
Meiler, Boriss
Электрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов
1986
/
с. 85-92
https://www.ester.ee/record=b1296001*est
artikkel kogumikus
169
artikkel kogumikus
Измеритель коэффициента шума интегральных усилителей
Tammet, Heinar
;
Torim, A.A.
Тезисы докладов республиканской научно-технической конференции, посвященной 80-летию со дня изобретения радио А. С. Поповым
1975
/
с. 93
https://www.ester.ee/record=b1322122*est
artikkel kogumikus
170
artikkel kogumikus
Измеритель шумов интегральных схем
Koiduste, A.
;
Tammet, Heinar
XX студенческая научно-техническая конференция вузов Прибалтийских республик, Белорусской ССР и Молдавской ССР : тезисы докладов. Часть 1
1974
/
с. 147
https://www.ester.ee/record=b1306141*est
artikkel kogumikus
171
dissertatsioon
Исследование влияния технологического микроклимата в производстве интегральных микросхем : автореферат ... кандидата технических наук (05.12.18)
Rätsep, Ülo
1983
https://www.ester.ee/record=b1522476*est
dissertatsioon
172
artikkel ajakirjas
Коэффициенное ударное ионизацеи носителей заряда в <100> арсениде галлия
Rang, Toomas
;
Puusepp, Märt
Электронная техника. Серия 2, Полупроводниковые приборы : научно-технический сборник
1987
/
с. 98-100
https://www.ester.ee/record=b2160501*est
artikkel ajakirjas
173
artikkel kogumikus
Метод исследования комплексного влияния параметров технологического микроклимата на качество полупроводниковых интегральных микросхем
Rätsep, Ülo
Тезисы докладов Республиканской научно-технической конференции "Современные методы и устройства радиоэлектронного оборудования", посвященной Дню радио. Секция: полупроводниковые приборы
1981
/
с. 81-82
https://www.ester.ee/record=b1310801*est
artikkel kogumikus
174
raamat
Методическое пособие к лабораторным работам и курсовому проектированию по дисциплине "Схемотехника ЭВМ"
1987
https://www.ester.ee/record=b1354263*est
raamat
175
artikkel kogumikus
Методы идентификации шумовых источников интегральных схем
Tammet, Heinar
Тезисы докладов республиканской научно-технической конференции, посвященной Дню радио, Таллин, 1977
1977
/
с. 87-88
https://www.ester.ee/record=b1313776*est
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 179, kuvan
151 - 175
eelmine
1
2
3
4
5
6
7
8
järgmine
märksõna
1
1.
integraallülitused
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT