prindi

Test configurations for diagnosing faulty links in NoC switches

autor
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
Govind, Vineeth
vastutusandmed
Jaan Raik, Raimund Ubar, Vineeth Govind
allikas
12th IEEE European Test Symposium ETS 2007 : 20-24 May 2007, Freiburg, Germany : proceedings
ilmumiskoht
Los Alamitos
kirjastus/väljaandja
IEEE Computer Society Press
ilmumisaasta
2007
leheküljed
p. 29-34 : ill
konverentsi nimetus, aeg
12th IEEE European Test Symposium ETS 2007, 20-24 May, 2007
konverentsi toimumispaik
Freiburg, Germany
leitav
http://dx.doi.org/10.1109/ETS.2007.41
märksõna
integraallülitused
rikked
kompuutersimulatsioon
ISSN
1530-1877
ISBN
978-0-7695-2827-4
märkused
Bibliogr.: 17 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise
Raik, J., Ubar, R.-J., Govind, V. Test configurations for diagnosing faulty links in NoC switches // 12th IEEE European Test Symposium ETS 2007 : 20-24 May 2007, Freiburg, Germany : proceedings. Los Alamitos : IEEE Computer Society Press, 2007. p. 29-34 : ill. http://dx.doi.org/10.1109/ETS.2007.41