Ubar, R.-J., Jenihhin, M., Jervan, G., Peng, Z.

täiskirje prindi

Test time minimization for hybrid BIST with test pattern broadcasting

autor

Ubar, Raimund-Johannes

Jenihhin, Maksim

Jervan, Gert

Peng, Zebo

vastutusandmed

Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, Gert Jervan, Zebo Peng

allikas

IEEE NORCHIP 2003 : 21 Norchip Conference : Riga, Latvia, 10-11 November 2003 : proceedings

ilmumiskoht

[S. l.]

ilmumisaasta

2003

leheküljed

p. 112-116 : ill

leitav

https://www.ida.liu.se/labs/eslab/publications/pap/db/norchip03.pdf

ISBN

87-982637-5-7

märkused

Bibliogr.: 11 ref

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

integraallülitused

testimine

Ubar, R.-J., Jenihhin, M., Jervan, G., Peng, Z. Test time minimization for hybrid BIST with test pattern broadcasting // IEEE NORCHIP 2003 : 21 Norchip Conference : Riga, Latvia, 10-11 November 2003 : proceedings. [S. l.], 2003. p. 112-116 : ill. https://www.ida.liu.se/labs/eslab/publications/pap/db/norchip03.pdf