täiskirje prindi

Fast test pattern generation for sequential circuits using decision diagram representations

autor
vastutusandmed
Jaan Raik and Raimund Ubar
allikas
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 16
ilmumisaasta
leheküljed
3, p. 213-226 : ill
leitav
ISSN
0923-8174
märkused
Bibliogr.: 21 ref
keel
inglise
Raik, J., Ubar, R. Fast test pattern generation for sequential circuits using decision diagram representations // Journal of electronic testing : theory and applications (JETTA) (2000) Vol. 16, 3, p. 213-226 : ill. https://link.springer.com/article/10.1023/A:1008335130158