Ubar, R.-J., Jenihhin, M., Jervan, G., Peng, Z.

prindi

An iterative approach to test time minimization for parallel hybrid BIST architectures

autor

Ubar, Raimund-Johannes

Jenihhin, Maksim

Jervan, Gert

Peng, Z.

vastutusandmed

R. Ubar, M. Jenihhin, G. Jervan, Z. Peng

allikas

System-on-Chip Conference 2004 : Bastad, Sweden

ilmumiskoht

[S.l.]

kirjastus/väljaandja

SOCWARE

ilmumisaasta

2004

leheküljed

p. ?

keel

inglise

Ubar, R.-J., Jenihhin, M., Jervan, G., Peng, Z. An iterative approach to test time minimization for parallel hybrid BIST architectures // System-on-Chip Conference 2004 : Bastad, Sweden. [S.l.] : SOCWARE, 2004. p. ?.