Abideen, Z.U., Wang, R., Perez, T.D., Schrijen, G-J., Pagliarini, S.N.

täiskirje prindi

Impact of orientation on the bias of SRAM-based PUFs

autor

Abideen, Zain Ul

Wang, Rui

Perez, Tiago Diadami

Schrijen, Geert-Jan

Pagliarini, Samuel Nascimento

vastutusandmed

Zain Ul Abideen, Rui Wang, Tiago Diadami Perez, Geert-Jan Schrijen, Samuel Pagliarini

allikas

IEEE design & test

kirjastus/väljaandja

IEEE

ajakirja aastakäik number kuu

vol. 14, 3

ilmumisaasta

2024

leheküljed

p. 14-20

leitav

https://doi.org/10.1109/MDAT.2023.3322621

ISSN

2168-2356

2168-2364

Open Access

teaduspublikatsioon

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

orientatsioon

hoiakud

integraallülitused

riistvara

transistorid

pooljuhtseadised

võtmesõna

Entropy

Random access memory

Integrated circuits

Layout

Hardware security

Transistors

Semiconductor device measurement

Teaduspublikatsiooni meetrika

klassifikaator

1.1

TalTechi üksused

TTÜ struktuuriüksus

arvutisüsteemide instituut

Abideen, Z.U., Wang, R., Perez, T.D., Schrijen, G-J., Pagliarini, S.N. Impact of orientation on the bias of SRAM-based PUFs // IEEE design & test (2024) vol. 14, 3, p. 14-20. https://doi.org/10.1109/MDAT.2023.3322621