prindi

Multi-level test generation and fault diagnosis for finite state machines

autor
Ubar, Raimund-Johannes
Brik, Marina
vastutusandmed
R.Ubar, M.Brik
allikas
Dependable computing : proceedings / EDCC-2, Second European Dependable Computing Conference, Taormina, Italy, October 2-4, 1996
ilmumiskoht
Berlin
kirjastus/väljaandja
Springer
ilmumisaasta
1996
leheküljed
p. 264-281: ill
märksõna
digitaalintegraallülitused
VLSI-ahelad
testimine
tarkvara
automaaditeooria
ISBN
3-540-61772-8
märkused
(Lecture notes in computer science, ISSN 0302-9743 ; 1150). Bibl. 22 ref
keel
inglise
Ubar, R., Brik, M. Multi-level test generation and fault diagnosis for finite state machines // Dependable computing : proceedings / EDCC-2, Second European Dependable Computing Conference, Taormina, Italy, October 2-4, 1996. Berlin : Springer, 1996. p. 264-281: ill.