prindi

Optimization of memory-constrained hybrid BIST for testing core-based systems

autor
Jervan, Gert
Kruus, Helena
Orasson, Elmet
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Gert Jervan, Helena Kruus, Elmet Orasson, Raimund Ubar
allikas
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum
ilmumiskoht
[Tallinn]
kirjastus/väljaandja
[Tallinna Tehnikaülikool]
ilmumisaasta
2007
leheküljed
lk. 133-136 : ill
märksõna
digitaaltehnika
testimine
ISBN
978-9985-59-700-2
märkused
Bibliogr.: 17 nim
keel
inglise
Jervan, G., Kruus, H., Orasson, E., Ubar, R.-J. Optimization of memory-constrained hybrid BIST for testing core-based systems // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum. [Tallinn] : [Tallinna Tehnikaülikool], 2007. lk. 133-136 : ill.