Pfeifer, P., Raik, J., Jenihhin, M., Ubar, R., Pliva, Z.

täiskirje prindi

Measuring and identifying aging-critical paths in FPGAs

autor

Pfeifer, Petr

Raik, Jaan

Jenihhin, Maksim

Ubar, Raimund-Johannes

Pliva, Zdenek

vastutusandmed

Petr Pfeifer, Jaan Raik, Maksim Jenihhin, Raimund Ubar, Zdenek Pliva

allikas

MEDIAN 2015 : the 4th Workshop on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale : March 13, 2015, Grenoble, France

ilmumiskoht

[S.l.]

kirjastus/väljaandja

COST

ilmumisaasta

2015

leheküljed

p. 56-61 : ill

konverentsi nimetus, aeg

4th Workshop on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale, March 13, 2015

konverentsi toimumispaik

Grenoble, France

märkused

Bibliogr.: 14 ref

TTÜ struktuuriüksus

arvutitehnika instituut

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

väliprogrammeeritav loogika

diagnostika (tehnika)

võtmesõna

aging

FPGA

critical path

logic

LUT

BRAM

Pfeifer, P., Raik, J., Jenihhin, M., Ubar, R., Pliva, Z. Measuring and identifying aging-critical paths in FPGAs // MEDIAN 2015 : the 4th Workshop on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale : March 13, 2015, Grenoble, France. [S.l.] : COST, 2015. p. 56-61 : ill.