prindi

Measuring and identifying aging-critical paths in FPGAs

autor
Pfeifer, Petr
Raik, Jaan
Jenihhin, Maksim
Ubar, Raimund-Johannes
Pliva, Zdenek
vastutusandmed
Petr Pfeifer, Jaan Raik, Maksim Jenihhin, Raimund Ubar, Zdenek Pliva
allikas
MEDIAN 2015 : the 4th Workshop on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale : March 13, 2015, Grenoble, France
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
COST
ilmumisaasta
2015
leheküljed
p. 56-61 : ill
konverentsi nimetus, aeg
4th Workshop on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale, March 13, 2015
konverentsi toimumispaik
Grenoble, France
märksõna
väliprogrammeeritav loogika
diagnostika (tehnika)
võtmesõna
aging
FPGA
critical path
logic
LUT
BRAM
märkused
Bibliogr.: 14 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise
Pfeifer, P., Raik, J., Jenihhin, M., Ubar, R., Pliva, Z. Measuring and identifying aging-critical paths in FPGAs // MEDIAN 2015 : the 4th Workshop on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale : March 13, 2015, Grenoble, France. [S.l.] : COST, 2015. p. 56-61 : ill.