Raik, J., Jutman, A., Ubar, R.-J. - TalTech teadusportaal

täiskirje prindi

Exact static compaction of independent test sequences

autor

Raik, Jaan

Jutman, Artur

Ubar, Raimund-Johannes

vastutusandmed

J.Raik, A.Jutman, R.Ubar

allikas

BEC 2002 : proceedings of the 8th Biennial Baltic Electronics Conference : October 6-9, 2002, Tallinn, Estonia

ilmumiskoht

Tallinn

kirjastus/väljaandja

[Tallinn Technical University]

ilmumisaasta

2002

leheküljed

p. 315-318 : ill

ISBN

9985-59-292-1

märkused

Bibliogr.: 13 ref

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

elektriahelad

testid

testimine

algoritmid

Raik, J., Jutman, A., Ubar, R.-J. Exact static compaction of independent test sequences // BEC 2002 : proceedings of the 8th Biennial Baltic Electronics Conference : October 6-9, 2002, Tallinn, Estonia. Tallinn : [Tallinn Technical University], 2002. p. 315-318 : ill.