prindi

DfT for application of external test patterns in a Network-on-a-Chip

autor
Govind, Vineeth
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Vineeth Govind, Jaan Raik, Raimund Ubar
allikas
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja
ilmumiskoht
[Tallinn
kirjastus/väljaandja
TTÜ kirjastus]
ilmumisaasta
2008
leheküljed
p. 25-28 : ill
märksõna
kiipvõrgud
testimine
ISBN
978-9985-59-782-8
märkused
Bibliogr.: 5 ref
keel
inglise
Govind, V., Raik, J., Ubar, R. DfT for application of external test patterns in a Network-on-a-Chip // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja. [Tallinn : TTÜ kirjastus], 2008. p. 25-28 : ill.