Skobtsov, Y.A., Ivanov, D.E., Skobtsov, V.Y., Ubar, R., Raik, J.

prindi

Evolutionary approach to test generation for functional BIST

autor

Skobtsov, Y.A.

Ivanov, D.E.

Skobtsov, V.Y.

Ubar, Raimund-Johannes

Raik, Jaan

vastutusandmed

Y.A.Skobtsov, D.E.Ivanov, V.Y.Skobtsov, R.Ubar, J.Raik

allikas

Informal Digest of Papers : 10 IEEE European Test Symposium : Tallinn, Estonia, May 22-25, 2005

ilmumiskoht

[Tallinn]

kirjastus/väljaandja

[Tallinn University of Technology]

ilmumisaasta

2005

leheküljed

p. 151-155 : ill

leitav

https://artiklid.elnet.ee/record=b1018764*est

märksõna

elektronlülitused

teimimine

raalteimimine

märkused

Bibliogr.: 11 ref

keel

inglise

Skobtsov, Y.A., Ivanov, D.E., Skobtsov, V.Y., Ubar, R., Raik, J. Evolutionary approach to test generation for functional BIST // Informal Digest of Papers : 10 IEEE European Test Symposium : Tallinn, Estonia, May 22-25, 2005. [Tallinn] : [Tallinn University of Technology], 2005. p. 151-155 : ill. https://artiklid.elnet.ee/record=b1018764*est