prindi

Multiple fault testing in systems-on-chip with high-level decision diagrams

autor
Ubar, Raimund-Johannes
Oyeniran, Adeboye Stephen
Schölzel, Mario
Vierhaus, Heinrich Theodor
vastutusandmed
Raimund Ubar, Stephen Adeboye Oyeniran, Mario Schölzel, Heinrich T. Vierhaus
allikas
Proceedings of 2015 10th International Design & Test Symposium (IDT) : Dead Sea, Jordan, 14-16 December 2015
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2015
leheküljed
p. 66-71 : ill
konverentsi nimetus, aeg
10th IEEE International Design & Test Symposium (IDT), 14-16 December, 2015
konverentsi toimumispaik
Dead Sea, Jordan
leitav
http://dx.doi.org/10.1109/IDT.2015.7396738
märksõna
arvutisüsteemid
digitaaltehnika
rikked
diagnostika (tehnika)
otsustusdiagrammid
võtmesõna
digital systems
multiple faults
fault masking
highlevel decision diagrams
ISBN
978-1-4673-9993-4
märkused
Bibliogr.: 17 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise
Ubar, R., Oyeniran, S.A., Schölzel, M., Vierhaus, H.T. Multiple fault testing in systems-on-chip with high-level decision diagrams // Proceedings of 2015 10th International Design & Test Symposium (IDT) : Dead Sea, Jordan, 14-16 December 2015. Piscataway : IEEE, 2015. p. 66-71 : ill. http://dx.doi.org/10.1109/IDT.2015.7396738