Representing gate-level SET faults by multiple SEU faults on RT-level
vastutusandmed
Ahmet Cagri Bagbaba, Maksim Jenihhin, Raimund Ubar, Christian Sauer
allikas
2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 13-15 July 2020 : proceedings
ilmumiskoht
Danvers
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
art. 19889351, 6 p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 13-15 July 2020
konverentsi toimumispaik
Napoli, Italy
ISBN
9781728181875
märkused
Bibliogr.: 20 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
märksõna
võtmesõna
klassifikaator
Bagbaba, A.C., Jenihhin, M., Ubar, R., Sauer, C. Representing gate-level SET faults by multiple SEU faults on RT-level // 2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 13-15 July 2020 : proceedings. Danvers : IEEE, 2020. art. 19889351, 6 p. : ill.