prindi

Functional level testability analysis for digital circuits

autor
Ubar, Raimund-Johannes
Kuchcinski, Ktzysztof
vastutusandmed
Raimund Ubar, Krzysztof Kuchcinski
allikas
ETC '93 : European Test Conference, Rotterdam, The Netherlands, April 19-22, 1993
ilmumiskoht
Rotterdam
ilmumisaasta
1993
leheküljed
p. 545-546
märksõna
digitaalelektroonika
analüüs
märkused
Bibl. p. 546
keel
inglise
Ubar, R., Kuchcinski, K. Functional level testability analysis for digital circuits // ETC '93 : European Test Conference, Rotterdam, The Netherlands, April 19-22, 1993. Rotterdam, 1993. p. 545-546.