Ubar, R., Kuchcinski, K. - TalTech teadusportaal

täiskirje prindi

Functional level testability analysis for digital circuits

autor

Ubar, Raimund-Johannes

Kuchcinski, Ktzysztof

vastutusandmed

Raimund Ubar, Krzysztof Kuchcinski

allikas

ETC '93 : European Test Conference, Rotterdam, The Netherlands, April 19-22, 1993

ilmumiskoht

Rotterdam

ilmumisaasta

1993

leheküljed

p. 545-546

märkused

Bibl. p. 546

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

digitaalelektroonika

analüüs

Ubar, R., Kuchcinski, K. Functional level testability analysis for digital circuits // ETC '93 : European Test Conference, Rotterdam, The Netherlands, April 19-22, 1993. Rotterdam, 1993. p. 545-546.