Ivask, E., Raik, J., Ubar, R. - TalTech teadusportaal

täiskirje prindi

Fault oriented test pattern generation for sequential circuits using Genetic Algorithms

autor

Ivask, Eero

Raik, Jaan

Ubar, Raimund-Johannes

vastutusandmed

Eero Ivask, Jaan Raik, Raimund Ubar

allikas

The 7th Biennial Conference on Electronics and Microsystem Technology "Baltic Electronics Conference" : BEC 2000 : October 8 - 11, 2000, Tallinn, Estonia : conference proceedings

ilmumiskoht

[Tallinn]

kirjastus/väljaandja

Tallinn Technical University

ilmumisaasta

2000

leheküljed

p. 129-132 : ill

ISBN

9985-59-179-8

märkused

Bibliogr.: 13 ref

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

geneetilised algoritmid

vead

Ivask, E., Raik, J., Ubar, R. Fault oriented test pattern generation for sequential circuits using Genetic Algorithms // The 7th Biennial Conference on Electronics and Microsystem Technology "Baltic Electronics Conference" : BEC 2000 : October 8 - 11, 2000, Tallinn, Estonia : conference proceedings. [Tallinn] : Tallinn Technical University, 2000. p. 129-132 : ill.