TalTech publikatsioonid
pealdis Cardoso Medeiros, G., Gürsoy, C.C., Fieback, M., Jenihhin, M. et al.
TTÜ struktuuriüksus arvutisüsteemide instituut
maakood us
keel inglise
autor Cardoso Medeiros, Guilherme
Gürsoy, Cemil Cem
Fieback, Moritz
Wu, Lizhou
Jenihhin, Maksim
Taouil, Mottaqiallah
Hamdioui, Said
pealkiri A DFT scheme to improve coverage of hard-to-detect faults in FinFET SRAMs
vastutusandmed Guilherme Cardoso Medeiros, Cemil Cem Gürsoy, Lizhou Wu, Moritz Fieback, Maksim Jenihhin, Mottaqiallah Taouil, Said Hamdioui
allikas 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 9-13 March 2020, Grenoble, France : proceedings
kirjastus/väljaandja EDAA
ilmumisaasta 2020
leheküljed p. 792-797
konverentsi nimetus, aeg 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE 2020), 9 to 13 March, 2020
konverentsi toimumispaik Grenoble, France
märksõna rikked
testimine
mikroprotsessorid
võtmesõna FinFET
SRAM
hard-to-detect faults
defects
DFT
memory testing
ISBN 978-3-9819263-4-7
märkused Bibliogr.: 24 ref
url https://doi.org/10.23919/DATE48585.2020.9116278