TalTech publikatsioonid
pealdis Govind, V., Raik, J., Ubar, R.
maakood ed
autor Govind, Vineeth
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
pealkiri DfT for application of external test patterns in a Network-on-a-Chip
vastutusandmed Vineeth Govind, Jaan Raik, Raimund Ubar
allikas Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja
ilmumiskoht [Tallinn
kirjastus/väljaandja TTÜ kirjastus]
ilmumisaasta 2008
leheküljed p. 25-28 : ill
ISBN 978-9985-59-782-8
märkused Bibliogr.: 5 ref