TalTech publikatsioonid
pealdis Kruus, H., Ubar, R., Raik, J.
maakood ed
keel inglise
autor Kruus, Helena
Ubar, Raimund-Johannes
Raik, Jaan
pealkiri Defect-oriented BIST quality analysis
vastutusandmed H. Kruus, R. Ubar, J. Raik
allikas BEC 2010 : 2010 12th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 12th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 4-6, 2010, Tallinn, Estonia
ilmumiskoht [Tallinn]
kirjastus/väljaandja Tallinn University of Technology
ilmumisaasta 2010
leheküljed p. 153-156 : ill
konverentsi nimetus, aeg 12th Biennial Baltic Electronics Conference, 2010
konverentsi toimumispaik Tallinn
ISSN 1736-3705
ISBN 978-1-4244-7357-1
märkused Bibliogr.: 18 ref