Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Liitotsing
Valitud kirjed
0
rikked (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
allikas
autor
DOI
ilmumisaasta
ilmumiskoht
juhendaja
kategooria
kirjastus/väljaandja
klassifikaator
konverentsi toimumispaik
kvartiil
leidumus
märksõna
pealkiri
seeria-sari
tema kohta
TTÜ märksõna
TTÜ struktuuriüksus
url
võtmesõna
Kõikidelt väljadelt
autor
ekspert
intervjueerija
juhendaja
kaaspanustaja
kollektiivautor
kommenteerija
koostaja
toimetaja
tõlkija
pealkiri
pealkirja tõlge
seeria variantpealkiri
variantpealkiri
ajakirja erinumber
allikas
ajamärksõna
asutuse kohta
kohamärksõna
märksõna
vormimärksõna
seeria variantpealkiri
seeria-sari
leidumus
Open Access
kategooria (alam)
kategooria (üld)
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Lihtotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
361
Vaata veel..
(1/1)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(361)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
251
artikkel kogumikus
Numerical study on the structural behavior of intact and damaged box beams under four-point bending load
Putranto, Teguh
;
Kõrgesaar, Mihkel
Developments in the Collision and Grounding of Ships and Offshore Structures : Proceedings of the 8th International Conference on Collision and Grounding of Ships and Offshore Structures (ICCGS 2019), 21-23 October, 2019, Lisbon, Portugal
2019
/
p. 139−143
https://www.taylorfrancis.com/books/e/9781003002420/chapters/10.1201/9781003002420-17
artikkel kogumikus
252
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Observer-based residual generation for nonlinear discrete-time systems
Kaldmäe, Arvo
;
Kotta, Ülle
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences
2018
/
p. 325-336
http://www.kirj.ee/public/proceedings_pdf/2018/issue_4/proc-2018-4-325-336.pdf
https://doi.org/10.3176/proc.2018.4.01
https://artiklid.elnet.ee/record=b2868167*est
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
253
artikkel kogumikus
Off-line testing of crosstalk induced glitch faults in NoC Interconnects
Bengtsson, Tomas
;
Kumar, Shashi
;
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings [of] 24th IEEE Norchip Conference : Linköping, Sweden, 20-21 November 2006
2006
/
p. 221-225 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/NORCHP.2006.329215
artikkel kogumikus
254
artikkel kogumikus
On coverage of timing related faults at board level
Jutman, Artur
;
Aleksejev, Igor
;
Devadze, Sergei
2016 21st IEEE European Test Symposium (ETS) : May 23rd-26th 2016, Amsterdam, The Netherlands : proceedings
2016
/
[2] p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS.2016.7519295
artikkel kogumikus
255
artikkel kogumikus
On efficient logic-level simulation of digital circuits represented by the SSBDD model
Jutman, Artur
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
23rd International Conference on Microelectronics : MIEL 2002, Niš, Yugoslavia, 12-15 May 2002 : proceedings. Volume 2
2002
/
p. 621-624 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/1003334
artikkel kogumikus
256
artikkel kogumikus
On NBTI-induced aging analysis in IEEE 1687 reconfigurable scan networks
Damljanovic, Aleksa
;
Squillero, Giovanni
;
Gürsoy, Cemil Cem
;
Jenihhin, Maksim
VLSI-SoC 2019 : 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration : [proceedings]
2019
/
p. 335-340 : ill
https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC.2019.8920313
artikkel kogumikus
257
artikkel kogumikus
On the estimation of complex circuits functional failure rate by machine learning techniques
Lange, Thomas
;
Balakrishnan, Aneesh
;
Glorieux, Maximilien
;
Alexandrescu, Dan
;
Sterpone, Luca
49th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks - DSN 2019 : Supplemental Volume : proceedings
2019
/
p. 35-41 : ill
https://doi.org/10.1109/DSN-S.2019.00021
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks
258
artikkel kogumikus
On-chip sensors data collection and analysis for SoC health management
Shibin, Konstantin
;
Jenihhin, Maksim
;
Jutman, Artur
;
Devadze, Sergei
;
Tsertov, Anton
2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
2023
/
6 p
https://doi.org/10.1109/DFT59622.2023.10313562
artikkel kogumikus
259
artikkel kogumikus
On-line fault classification and handling in IEEE1687 based fault management system for complex SoCs
Shibin, Konstantin
;
Devadze, Sergei
;
Jutman, Artur
LATS 2016 : 17th IEEE Latin-American Test Symposium, Foz do Iguacu, Brazil, 6th-9th April 2016
2016
/
p. 69-74 : ill
https://doi.org/10.1109/LATW.2016.7483342
artikkel kogumikus
260
artikkel kogumikus
Operation of Single-Chip MOSFET and IGBT Devices after failure due to repetitive avalanche [Electronic resource]
Blinov, Andrei
;
Norrga, Staffan
;
Tibola, Gabriel
EPE'15 ECCE Europe : 8-10 September 2015, Geneva, Switzerland : 17th European Conference on Power Electronics and Applications
2015
/
p. 1-9 : ill. [USB]
http://dx.doi.org/10.1109/EPE.2015.7309190
artikkel kogumikus
261
artikkel kogumikus
Optimization of memory-constrained hybrid BIST for testing core-based systems
Jervan, Gert
;
Kruus, Helena
;
Orasson, Elmet
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the IEEE 2nd International Symposium on Industrial Embedded Systems : SIES'2007 : Lisbon, Portugal, 4-6 July 2007
2007
/
p. 71-77
https://ieeexplore.ieee.org/document/4297319
artikkel kogumikus
262
artikkel kogumikus
Overview of e-learning environment for web-based study of testing and diagnostics of digital systems
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
Microelectronics education : proceedings of the 5th European Workshop on Microelectronics Education, held in Lausanne, Switzerland, April 15-16, 2004
2004
/
p. 253-258 : ill
https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-1-4020-2651-5_41
artikkel kogumikus
263
artikkel kogumikus
Overview of e-learning environment for web-based study of testing and diagnostics of digital systems
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
5th European Workshop on Microelectronics Education - EWME 2004, Lausanne, 2004
2004
/
p. 173-176
https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-1-4020-2651-5_41
artikkel kogumikus
264
artikkel kogumikus
Parallel critical path tracing fault simulation in sequential circuits
Kõusaar, Jaak
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
Proceedings of 25th International Conference MIXED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS : MIXDES 2018 : Gdynia, Poland, June 21–23, 2018
2018
/
p. 305-310 : ill
https://doi.org/10.23919/MIXDES.2018.8436880
artikkel kogumikus
265
artikkel kogumikus
Parallel exact critical path tracing fault simulation with reduced memory requirements
Devadze, Sergei
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
4th International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscal Era : DTIS'09 : Cairo, Egypt, April 6-9, 2009
2009
/
p. 155-160 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/4938046
artikkel kogumikus
266
artikkel kogumikus
Parallel fault analysis on structurally synthesized BDDs
Devadze, Sergei
;
Ubar, Raimund-Johannes
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum
2007
/
lk. 47-50 : ill
artikkel kogumikus
267
artikkel kogumikus
Parallel fault backtracing for calculation of fault coverage
Ubar, Raimund-Johannes
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
Proceedings of the ASP-DAC 2008 : [13th] Asia and South Pacific Design Automation Conference 2008 : January 21-24, 2008, COEX, Seoul, Korea
2008
/
p. 667-672 : ill
https://www.researchgate.net/publication/221153650_Parallel_fault_backtracing_for_calculation_of_fault_coverage
artikkel kogumikus
268
artikkel kogumikus
Parallel fault simulation in digital circuits
Aarna, Margit
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proc. of 42nd International Scientific Conference of Riga Technical University
2001
/
p. 91-94
artikkel kogumikus
269
artikkel ajakirjas
Parallel fault simulation in digital circuits
Aarna, Margit
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Scientific proceedings of Riga Technical University. 7. serija, Telecommunications and electronics
2001
/
p. 91-94 : ill
artikkel ajakirjas
270
artikkel kogumikus
Parallel X-fault simulation with critical path tracing technique [Electronic resource]
Ubar, Raimund-Johannes
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
DATE 10 : Design, Automation & Test in Europe : Dresden, Germany, 8-12 March, 2010
2010
/
p. 879-884 [CD-ROM]
https://www.researchgate.net/publication/221341788_Parallel_X-fault_simulation_with_critical_path_tracing_technique
artikkel kogumikus
271
artikkel kogumikus
Performance evaluation of additive manufacturing based test samples for studies of defects in electrical insulation
Shafiq, Muhammad
;
Taklaja, Paul
;
Kiitam, Ivar
;
Tiismus, Hans
;
Palu, Ivo
;
Kütt, Lauri
2021 International Conference on Electrical, Computer and Energy Technologies (ICECET)
2021
/
6 l
https://doi.org/10.1109/ICECET52533.2021.9698476
artikkel kogumikus
272
artikkel kogumikus
Platform independent event correlation tool for network management
Vaarandi, Risto
NOMS 2002 : 2002 IEEE/IFIP Network Operations and Management Symposium "Management Solutions for the New Communications World" : proceedings
2002
/
p. 907-909
https://ieeexplore.ieee.org/document/1015640
artikkel kogumikus
273
artikkel ajakirjas
Power quality issues in dispersed generation and smart grids
Vaimann, Toomas
;
Niitsoo, Jaan
;
Kivipõld, Tanel
;
Lehtla, Tõnu
Elektronika ir elektrotechnika = Electronics and electrical engineering
2012
/
p. 23-26 : ill
https://citeseerx.ist.psu.edu/document?repid=rep1&type=pdf&doi=573c03a0753bcfce3929ba739ff032b16882acf5
artikkel ajakirjas
274
artikkel kogumikus
Preliminary analysis of bearing current faults for predictive maintenance : [conference paper]
Kudelina, Karolina
22nd International Symposium “Topical Problems in the Field of Electrical and Power Engineering”. Doctoral School of Energy and Geotechnology III : Pärnu, Estonia, August 23-26, 2023
2023
/
p. 35-36 : ill
https://www.ester.ee/record=b5570906*est
artikkel kogumikus
275
artikkel kogumikus
Preliminary analysis of global parameters of induction machine for fault prediction in rotor bars
Kudelina, Karolina
;
Raja, Hadi Ashraf
;
Autsou, Siarhei
;
Asad, Bilal
;
Vaimann, Toomas
;
Rassõlkin, Anton
;
Kallaste, Ants
2022 IEEE 20th International Power Electronics and Motion Control Conference (PEMC) : Brasov, Romania, 25-28 Sept. 2022 : proceedings
2022
/
p. 243-248 : ill
https://doi.org/10.1109/PEMC51159.2022.9962922
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 361, kuvan
251 - 275
eelmine
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
järgmine
märksõna
1
1.
rikked
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT