Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
integraallülitused (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
180
Vaata veel..
(1/1)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(180)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
51
artikkel kogumikus
Fault diagnosis in integrated circuits with BIST
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Evartson, Teet
;
Lensen, Harri
10th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools, DSD 2007 : 29-31 August 2007, Lübeck, Germany : proceedings
2007
/
p. 604-610 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2007.4341530
artikkel kogumikus
52
artikkel ajakirjas
Fault diagnosis in VLSI devices
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences. Engineering
1995
/
1, p. 51-67
artikkel ajakirjas
53
artikkel ajakirjas
Fault effect reasoning in digital systems by topological view on low- and high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика
2014
/
p. 99-113 : ill
http://journals.tsu.ru/informatics/&journal_page=archive&id=923&article_id=12107
artikkel ajakirjas
54
artikkel kogumikus
Fault simulation with parallel critical path tracing for combinational circuits using structurally synthesized BDDs
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
7th IEEE Latin American Test Workshop LATW'06 : Buenos Aires, Argentina, March 26th-29th, 2006 : proceedings
2006
/
p. 97-102 : ill
artikkel kogumikus
55
artikkel kogumikus
Faults and fault models for integrated circuits and systems [Electronic resource] : [slides]
Ubar, Raimund-Johannes
Design and Test Technology for Dependable Hardware/Software Systems : DEDIS/DAAD Summer Academy : BTU Cottbus, Sept. 1st-12th, 2008
2008
/
[64] p. : ill. [CD-ROM]
artikkel kogumikus
56
artikkel kogumikus
Foreword to the 12th IEEE DDECS Symposium
Pliva, Zdenek
;
Manhaeve, Hans
;
Renovell, Michel
;
Novak, Ondrej
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Drabkova, Jindra
Proceedings of the 2009 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 15-17, 2009, Liberec, Czech Republic
2009
/
p. iii
http://dx.doi.org/10.1109/DDECS.2009.5012081
artikkel kogumikus
57
artikkel ajakirjas
From virtual characterization to test-chips : DFM analysis through pattern enumeration
Martins, Mayler G.A.
;
Pagliarini, Samuel Nascimento
;
Isgenc, Mehmet Meric
;
Pileggi, Larry
IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
2020
/
p. 520-532
https://doi.org//10.1109/TCAD.2018.2889772
artikkel ajakirjas
58
artikkel kogumikus
Gate-level modelling of NBTI-induced delays under process variations
Copetti, Thiago
;
Cardoso Medeiros, Guilherme
;
Bolzani Poehls, Leticia
;
Vargas, Fabian
;
Kostin, Sergei
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
LATS 2016 : 17th IEEE Latin-American Test Symposium, Foz do Iguacu, Brazil, 6th-9th April 2016
2016
/
p. 75-80 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2016.7483343
artikkel kogumikus
59
dissertatsioon
Hardware realization of lattice-based post-quantum cryptography = Võrel põhinev post-kvant-krüptograafia riistvaraline realisatsioon
Imran, Malik
2023
https://www.ester.ee/record=b5571216*est
https://doi.org/10.23658/taltech.33/2023
https://digikogu.taltech.ee/et/Item/75aeb070-cb8b-4511-beaf-cbea3fca147d
https://www.ester.ee/record=b5571216*est
dissertatsioon
Seotud publikatsioonid
6
An experimental study of building blocks of lattice-based NIST post-quantum cryptographic algorithms
An open-source library of large integer polynomial multipliers
Design space exploration of SABER in 65nm ASIC
High-speed SABER key encapsulation mechanism in 65nm CMOS
A versatile and flexible multiplier generator for Large integer polynomials
High-speed design of postquantum cryptography with optimized hashing and multiplication
60
raamat
Hardware/software co-design for programmable systems-on-chip
Sklyarov, Valery
;
Skliarova, Iouliia
;
Silva, João
;
Rjabov, Artjom
;
Sudnitsõn, Aleksander
;
Cardoso, Cláudia
2014
http://www.ester.ee/record=b3087107*est
raamat
61
artikkel kogumikus
High-level decision diagram based fault models for targeting FSMs
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Viilukas, Taavi
9th EUROMICRO Conference on Digital Systems Design : Architectures, Methods and Tools (DSD 2006) : 30 August 2006-1 September 2006, Cavtat near Dubrovnik, Croatia : proceedings
2006
/
p. 353-358 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2006.60
artikkel kogumikus
62
artikkel kogumikus
High-Level Decision Diagram manipulations for code coverage analysis
Minakova, Karina
;
Reinsalu, Uljana
;
Tšepurov, Anton
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
BEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 11th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology : October 6-8, 2008, Tallinn, Estonia
2008
/
p. 207-210 : ill
artikkel kogumikus
63
artikkel kogumikus
High-level decision diagrams based coverage metrics for verification and test
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Tšepurov, Anton
;
Reinsalu, Uljana
;
Ubar, Raimund-Johannes
LATW 2009 : 10th IEEE Latin American Test Workshop : Buzios, Rio de Janero, Brazil, March 2-5, 2009
2009
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2009.4813792
artikkel kogumikus
64
artikkel kogumikus
High-level modeling and testing of multiple control faults in digital systems
Jasnetski, Artjom
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Tšertov, Anton
;
Schölzel, Mario
;
Ubar, Raimund-Johannes
Formal proceedings of the 2016 IEEE 19th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 20-22, 2016, Košice, Slovakia
2016
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DDECS.2016.7482445
artikkel kogumikus
65
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
High-speed SABER key encapsulation mechanism in 65nm CMOS
Imran, Malik
;
Almeida, Felipe
;
Basso, Andrea
;
Roy, Sujoy Sinha
;
Pagliarini, Samuel Nascimento
Journal of cryptographic engineering
2023
/
p. 461-471 : ill
https://doi.org/10.1007/s13389-023-00316-2
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Seotud publikatsioonid
1
Hardware realization of lattice-based post-quantum cryptography = Võrel põhinev post-kvant-krüptograafia riistvaraline realisatsioon
66
artikkel ajalehes
Hiina võis sanktsioonide kiuste jõuda uue kiibitehnoloogiani [Võrguväljaanne]
Einama, Kaido
Postimees
2022
Hiina võis sanktsioonide kiuste jõuda uue kiibitehnoloogiani
artikkel ajalehes
67
artikkel kogumikus
How to emulate Network-on-Chip?
Ellervee, Peeter
;
Jervan, Gert
Proceedings of the IEEE East-West Design & Test Workshop (EWDTW'06) : Sochi, Russia, September 15-19, 2006
2006
/
p. 282-286 : ill
artikkel kogumikus
68
artikkel kogumikus
Hybrid BIST optimization using reseeding and test set compaction
Jervan, Gert
;
Orasson, Elmet
;
Kruus, Helena
;
Ubar, Raimund-Johannes
10th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools, DSD 2007 : 29-31 August 2007, Lübeck, Germany : proceedings
2007
/
p. 596-603 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2007.4341529
artikkel kogumikus
69
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Hybrid protection of digital FIR filters
Aksoy, Levent
;
Nguyen, Quang-Linh
;
Almeida, Felipe
;
Raik, Jaan
;
Flottes, Marie-Lise
;
Dupuis, Sophie
;
Pagliarini, Samuel Nascimento
IEEE transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
2023
/
p. 812-825 : ill
https://doi.org/10.1109/TVLSI.2023.3253641
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
70
artikkel ajakirjas
I²L új irányrat a bipoláris technikában I
Rang, Toomas
Mérés és automatika: megjelenik a Méréstechnikai és Automatizálási Tudományos Egyesület Szerkesztésében
1979
/
p. 191-195
artikkel ajakirjas
71
artikkel ajakirjas
I²L, új irányrat a bipoláris technikában II
Rang, Toomas
Mérés és automatika: megjelenik a Méréstechnikai és Automatizálási Tudományos Egyesület Szerkesztésében
1979
/
p. 279-283
artikkel ajakirjas
72
artikkel ajakirjas
IEEE Norchip 2003. a. konverents
Ellervee, Peeter
A & A
2004
/
1, lk. 48-49
https://artiklid.elnet.ee/record=b1015000*est
artikkel ajakirjas
73
artikkel ajakirjas
Impact of orientation on the bias of SRAM-based PUFs
Abideen, Zain Ul
;
Wang, Rui
;
Perez, Tiago Diadami
;
Schrijen, Geert-Jan
;
Pagliarini, Samuel Nascimento
IEEE design & test
2024
/
p. 14-20
https://doi.org/10.1109/MDAT.2023.3322621
artikkel ajakirjas
Seotud publikatsioonid
1
Leveraging FPGA Reconfigurability as an Obfuscation Asset = FPGA ümberkonfigureeritavuse rakendamine hägustamise vahendina
74
artikkel ajakirjas
Impact of orientation on the bias of SRAM-based PUFs
Abideen, Zain Ul
;
Wang, Rui
;
Perez, Tiago Diadami
;
Schrijen, Geert-Jan
;
Pagliarini, Samuel Nascimento
arXiv.org
2023
/
7 p. : ill
https://doi.org/10.48550/arXiv.2308.06730
artikkel ajakirjas
Seotud publikatsioonid
1
Leveraging FPGA Reconfigurability as an Obfuscation Asset = FPGA ümberkonfigureeritavuse rakendamine hägustamise vahendina
75
artikkel kogumikus
Improving the efficiency of timing simulation in digital circuits by using structurally synthesized BDDs
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jutman, Artur
;
Peng, Z.
IEEE Norchip Conference
2000
/
p. 254-261
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 180, kuvan
51 - 75
eelmine
1
2
3
4
5
6
7
8
järgmine
märksõna
1
1.
integraallülitused
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT