Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

226

artikkel kogumikus

Using Tabu search method for optimizing the cost of hybrid BISTKruus, Helena; Ubar, Raimund-Johannes; Jervan, Gert; Peng, Z.XVI Conference on Design of Circuits and Integrated Systems : Porto, Portugal, 20012001 / p. 445-450 https://citeseerx.ist.psu.edu/document?repid=rep1&type=pdf&doi=e97bb394ff71aa0affcc5fb372404bbc246888a8

artikkel kogumikus

227

artikkel ajakirjas

Uudne turvaline kiibitehnoloogiaRaik, JaanMente et Manu2021 / lk. 32-33 : fot Mente et Manu 2/2021

artikkel ajakirjas

228

artikkel ajalehes

Uuring: Eesti majanduse veduriks võib saada kuus tehnoloogiavaldkondaBioneer.ee2023 Uuring: Eesti majanduse veduriks võib saada kuus tehnoloogiavaldkonda

artikkel ajalehes

229

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Versatile direct and transpose matrix multiplication with chained operations : an optimized architecture using circulant matricesIakymchuk, Taras; Rosado-Munoz, Alfredo; Mompean, Manuel Bataller; Villora, Jose Vicente Frances; Osimiry, Emmanuel OvieIEEE Transactions on Computers2016 / p. 3470 - 3479 https://doi.org/10.1109/TC.2016.2538235 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

230

artikkel kogumikus

VHDL design debug framework based on zamiaCADTihhomirov, Valentin; Tšepurov, Anton; Saif Abrar, Syed; Jenihhin, Maksim; Raik, JaanDATE 2013 : Design Automation and Test in Europe, March 18-22, 2013, Grenoble, France2013 / [1] p. : ill

artikkel kogumikus

231

artikkel ajalehes

Võitlus kiipides varitsevate troojalastega tõstab Eesti teadlased kilbileHärmat, Karinerr.ee2023 Võitlus kiipides varitsevate troojalastega tõstab Eesti teadlased kilbile

artikkel ajalehes

232

artikkel ajakirjas

XXI sajandi arvutiToomsalu, ArvoA & A2000 / 1, lk. 8-13 ; 2, lk. 8-19 https://artiklid.elnet.ee/record=b1003324*est

artikkel ajakirjas

233

artikkel kogumikus

Быстродействующие интегральные компараторыGurjanov, Boris; Tamm, UljasIX Всесоюзная научно-техническая конференция по микроэлектронике, г. Казань, 14-17 окт. 1980 г. : тезисы докладов1980 / с. 88

artikkel kogumikus

234

artikkel kogumikus

Генерирование тестов для микропроцессорных БИСViilup, Agu; Evartson, TeetРасчет и проектирование систем технической кибернетики1983 / с. 121-129 : ил https://www.ester.ee/record=b1288991*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/7d7515af-76b7-4d35-89a7-e80367d5b635

artikkel kogumikus

235

artikkel kogumikus

Изменение параметров интегральных схем при анализе в растровом электронном микроскопеMeiler, BorissЭлектрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1986 / с. 85-92 https://www.ester.ee/record=b1296001*est

artikkel kogumikus

236

artikkel kogumikus

Измеритель коэффициента шума интегральных усилителейTammet, Heinar; Torim, A.A.Тезисы докладов республиканской научно-технической конференции, посвященной 80-летию со дня изобретения радио А. С. Поповым1975 / с. 93 https://www.ester.ee/record=b1322122*est

artikkel kogumikus

237

artikkel kogumikus

Измеритель шумов интегральных схемKoiduste, A.; Tammet, HeinarXX студенческая научно-техническая конференция вузов Прибалтийских республик, Белорусской ССР и Молдавской ССР : тезисы докладов. Часть 11974 / с. 147 https://www.ester.ee/record=b1306141*est

artikkel kogumikus

238

dissertatsioon

Исследование влияния технологического микроклимата в производстве интегральных микросхем : автореферат ... кандидата технических наук (05.12.18)Rätsep, Ülo1983 https://www.ester.ee/record=b1522476*est

dissertatsioon

239

artikkel ajakirjas

Коэффициенное ударное ионизацеи носителей заряда в <100> арсениде галлияRang, Toomas; Puusepp, MärtЭлектронная техника. Серия 2, Полупроводниковые приборы : научно-технический сборник1987 / с. 98-100 https://www.ester.ee/record=b2160501*est

artikkel ajakirjas

240

artikkel kogumikus

Метод исследования комплексного влияния параметров технологического микроклимата на качество полупроводниковых интегральных микросхемRätsep, ÜloТезисы докладов Республиканской научно-технической конференции "Современные методы и устройства радиоэлектронного оборудования", посвященной Дню радио. Секция: полупроводниковые приборы1981 / с. 81-82 https://www.ester.ee/record=b1310801*est

artikkel kogumikus

241

artikkel kogumikus

Метод исследования технологического процесса производства интегральных микросхем, основанный на анализе кластеров состоянийRätsep, Ülo; Teevet, J.-T.Методы и средства обработки сигналов при наличии шумов1982 / с. 39-43 https://www.ester.ee/record=b1312255*est https://www.etera.ee/zoom/121735/view?page=1&p=separate&search=true&tool=search

artikkel kogumikus

242

raamat

Методическое пособие к лабораторным работам и курсовому проектированию по дисциплине "Схемотехника ЭВМ"1987 https://www.ester.ee/record=b1354263*est

raamat

243

artikkel kogumikus

Методы идентификации шумовых источников интегральных схемTammet, HeinarТезисы докладов республиканской научно-технической конференции, посвященной Дню радио, Таллин, 19771977 / с. 87-88 https://www.ester.ee/record=b1313776*est

artikkel kogumikus

244

artikkel kogumikus

Оценка тенденции использования некоторых видов микросхемMaltsev, Jüri; Ševtšenko, S.Тезисы докладов республиканской научно-технической конференции, посвященной Дню радио. [1], Секция: Информационно-измерительная техника1981 / с. 25-26 https://www.ester.ee/record=b1310782~S1*est

artikkel kogumikus

245

artikkel ajakirjas

Построение тестов для неисправностей комбинационных схем на основе анализа ортогональных дизъюнктивных нормальных форм, представляемых альтернативными графамиMatrosova, A.Yu.; Pleshkov, A.G.; Ubar, Raimund-JohannesАвтоматика и телемеханика2005 / с. 158-174 : ил http://mi.mathnet.ru/at1333

artikkel ajakirjas

246

artikkel kogumikus

Прогнозирование качества интегральных микросхем на основе кластеров состоянийBudarin, Vladimir; Rätsep, Ülo; Teevet, J.-T.Методы и средства цифровой обработки сигналов1984 / с. 111-115

artikkel kogumikus

247

artikkel ajalehes

«Сейчас время больших перемен»: профессор TalTech приоткрыл завесу тайны развития ИИ в ЭстонииGrebneva, N.; Jenihhin, Maksimrus.postimees.ee2025 «Сейчас время больших перемен»: профессор TalTech приоткрыл завесу тайны развития ИИ в Эстонии