Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
integraallülitused (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
205
Vaata veel..
(1/1)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(205)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
76
artikkel kogumikus
High-level modeling and testing of multiple control faults in digital systems
Jasnetski, Artjom
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Tšertov, Anton
;
Schölzel, Mario
;
Ubar, Raimund-Johannes
Formal proceedings of the 2016 IEEE 19th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 20-22, 2016, Košice, Slovakia
2016
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DDECS.2016.7482445
artikkel kogumikus
77
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
High-speed SABER key encapsulation mechanism in 65nm CMOS
Imran, Malik
;
Almeida, Felipe
;
Basso, Andrea
;
Roy, Sujoy Sinha
;
Pagliarini, Samuel Nascimento
Journal of cryptographic engineering
2023
/
p. 461-471 : ill
https://doi.org/10.1007/s13389-023-00316-2
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Seotud publikatsioonid
1
Hardware realization of lattice-based post-quantum cryptography = Võrel põhinev post-kvant-krüptograafia riistvaraline realisatsioon
78
artikkel ajalehes
Hiina võis sanktsioonide kiuste jõuda uue kiibitehnoloogiani [Võrguväljaanne]
Einama, Kaido
Postimees
2022
Hiina võis sanktsioonide kiuste jõuda uue kiibitehnoloogiani
artikkel ajalehes
79
artikkel kogumikus
How to emulate Network-on-Chip?
Ellervee, Peeter
;
Jervan, Gert
Proceedings of the IEEE East-West Design & Test Workshop (EWDTW'06) : Sochi, Russia, September 15-19, 2006
2006
/
p. 282-286 : ill
artikkel kogumikus
80
artikkel kogumikus
Hybrid BIST optimization using reseeding and test set compaction
Jervan, Gert
;
Orasson, Elmet
;
Kruus, Helena
;
Ubar, Raimund-Johannes
10th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools, DSD 2007 : 29-31 August 2007, Lübeck, Germany : proceedings
2007
/
p. 596-603 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2007.4341529
artikkel kogumikus
81
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Hybrid protection of digital FIR filters
Aksoy, Levent
;
Nguyen, Quang-Linh
;
Almeida, Felipe
;
Raik, Jaan
;
Flottes, Marie-Lise
;
Dupuis, Sophie
;
Pagliarini, Samuel Nascimento
IEEE transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
2023
/
p. 812-825 : ill
https://doi.org/10.1109/TVLSI.2023.3253641
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
82
artikkel ajakirjas
I²L új irányrat a bipoláris technikában I
Rang, Toomas
Mérés és automatika: megjelenik a Méréstechnikai és Automatizálási Tudományos Egyesület Szerkesztésében
1979
/
p. 191-195
artikkel ajakirjas
83
artikkel ajakirjas
I²L, új irányrat a bipoláris technikában II
Rang, Toomas
Mérés és automatika: megjelenik a Méréstechnikai és Automatizálási Tudományos Egyesület Szerkesztésében
1979
/
p. 279-283
artikkel ajakirjas
84
artikkel ajakirjas
IEEE Norchip 2003. a. konverents
Ellervee, Peeter
A & A
2004
/
1, lk. 48-49
https://artiklid.elnet.ee/record=b1015000*est
artikkel ajakirjas
85
artikkel ajakirjas
Impact of orientation on the bias of SRAM-based PUFs
Abideen, Zain Ul
;
Wang, Rui
;
Perez, Tiago Diadami
;
Schrijen, Geert-Jan
;
Pagliarini, Samuel Nascimento
arXiv.org
2023
/
7 p. : ill
https://doi.org/10.48550/arXiv.2308.06730
artikkel ajakirjas
Seotud publikatsioonid
1
Leveraging FPGA Reconfigurability as an Obfuscation Asset = FPGA ümberkonfigureeritavuse rakendamine hägustamise vahendina
86
artikkel ajakirjas
Impact of orientation on the bias of SRAM-based PUFs
Abideen, Zain Ul
;
Wang, Rui
;
Perez, Tiago Diadami
;
Schrijen, Geert-Jan
;
Pagliarini, Samuel Nascimento
IEEE design & test
2024
/
p. 14-20
https://doi.org/10.1109/MDAT.2023.3322621
artikkel ajakirjas
Seotud publikatsioonid
1
Leveraging FPGA Reconfigurability as an Obfuscation Asset = FPGA ümberkonfigureeritavuse rakendamine hägustamise vahendina
87
artikkel kogumikus
Improving the efficiency of timing simulation in digital circuits by using structurally synthesized BDDs
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jutman, Artur
;
Peng, Z.
IEEE Norchip Conference
2000
/
p. 254-261
artikkel kogumikus
88
raamat
Informal Digest of Papers : 10 IEEE European Test Symposium : Tallinn, Estonia, May 22-25, 2005
2005
https://www.ester.ee/record=b2055139*est
raamat
89
artikkel ajakirjas
Integraallülituste hind
Toomsalu, Arvo
A & A
2007
/
3, lk. 20-32 : ill
artikkel ajakirjas
90
artikkel ajakirjas
Integraallülituste pöördprojekteerimine
Toomsalu, Arvo
A & A
1998
/
2, lk. 8-13
artikkel ajakirjas
91
raamat
Integraalskeemide projekteerimine : metoodiline juhend
1988
https://www.ester.ee/record=b1239938*est
raamat
92
artikkel ajakirjas
Integrált áramköri elemek fizikai modellezése aramkölanalizös program segítségével
Rang, Toomas
;
Tarnay, K.
;
Szekely, V.
Híradástechnika = Journal on communications, computers, convergence, contents, companies
1980
/
p. 322-326
artikkel ajakirjas
93
artikkel kogumikus
Integrated analog front-end for ECG measurement
Siren, Harri
;
Kontra, Veli
BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings
1996
/
p. 203-204: ill
artikkel kogumikus
94
artikkel kogumikus
Integrated RF circuit solutions for radio communication systems
Halonen, Kari
;
Koli, Kimmo
;
Porra, Veikko
BEC : Baltic Electronics Conference : proceedings of the 4th Biennial Conference, October 9-14, 1994, Tallinn (Estonia). 2
1994
/
p. 473-478: ill
https://www.ester.ee/record=b2150914*est
artikkel kogumikus
95
artikkel ajakirjas
Intel 1103 - esimene DRAM-kiip
Toomsalu, Arvo
A & A
2006
/
5, lk. 27-32
https://artiklid.elnet.ee/record=b1019636*est
artikkel ajakirjas
96
artikkel ajakirjas
Interaction between point defects, extended defects and impurities in the Si-SiO2 system during the process of its formation
Kropman, Daniel
;
Kärner, T.
;
Abru, Uno
;
Ugaste, Ülo
;
Mellikov, Enn
Thin solid films
2004
/
1/2, p. 53-57 : ill
https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0921510704003459
artikkel ajakirjas
97
artikkel ajakirjas
Interaction between point defects, extended defects and impurities in the Si-SiO2 system during the process of its formation
Kropman, Daniel
;
Kärner, T.
;
Abru, Uno
;
Ugaste, Ülo
;
Mellikov, Enn
;
Kauk, Marit
Materials science and engineering : B
2004
/
p. 295-298 : ill
https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0921510704003459
artikkel ajakirjas
98
artikkel ajalehes
Jaan Raik : müütidest Eesti elektroonikatööstuse väljavaadete ümber
Raik, Jaan
err.ee
2022
Jaan Raik: müütidest Eesti elektroonikatööstuse väljavaadete ümber
artikkel ajalehes
99
artikkel kogumikus
Jaan Raik: Computers must undergo a revolution in order to continue their rapid development
Raik, Jaan
Estonian Centre of Excellence in ICT Research
2021
/
p. 43-47 : ill
http://www.digar.ee/id/nlib-digar:634779
https://www.ester.ee/record=b5456158*est
artikkel kogumikus
100
artikkel ajalehes
Jaan Raik: kiibikriis – kas maailmalõpp või Eesti võimalus? [Võrguväljaanne]
postimees.ee
2021
"Jaan Raik: kiibikriis – kas maailmalõpp või Eesti võimalus?"
artikkel ajalehes
Kirjeid leitud 205, kuvan
76 - 100
eelmine
1
2
3
4
5
6
7
8
9
järgmine
märksõna
1
1.
integraallülitused
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT