Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
integraallülitused (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
193
Vaata veel..
(1/1)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(193)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
151
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
A survey on split manufacturing : attacks, defenses, and challenges
Perez, Tiago Diadami
;
Pagliarini, Samuel Nascimento
IEEE Access
2020
/
p. 184013-184035
https://doi.org/10.1109/ACCESS.2020.3029339
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Seotud publikatsioonid
1
Security-aware physical synthesis of integrated circuits = Integraallülituste turvateadlik füüsiline süntees
152
raamat
Süvatehnoloogiate alternatiivsed arengutrajektoorid ja nende tähendus Eestile : lõpparuanne
Koppel, Kaupo
;
Kuusik, Alar
;
Arrak, Kadri
;
Raik, Jaan
;
Niidu, Allan
;
Kõks, Kerttu-Liis
;
Lahtvee, Petri-Jaan
2023
https://media.voog.com/0000/0037/5345/files
raamat
153
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Symmetry in the narrow sense: on the linearity and time-invariance of DQ0 models
Segev, Elior
;
Ofir, Ron
;
Belikov, Juri
;
Levron, Yoash
IEEE Transactions on Power Systems
2023
/
p. 1751-1754
https://doi.org/10.1109/TPWRS.2022.3229873
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
154
artikkel kogumikus
Synthesis of multiple fault oriented test groups from single fault test sets [Electronic resource]
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
2013 8th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS) : 26-28 March 2013, Abu Dhabi, UAE
2013
/
p. 36-41 : ill [CD-ROM]
artikkel kogumikus
155
artikkel kogumikus
Synthesis of sequential circuits with dynamic power management
Lensen, Harri
;
Kruus, Margus
;
Sudnitsõn, Aleksander
Proc. of 42nd International Scientific Conference of Riga Technical University : RTUCET'01
2001
/
p. 81-86
artikkel kogumikus
156
artikkel ajakirjas
Synthesis of sequential circuits with dynamic power management
Lensen, Harri
;
Kruus, Margus
;
Sudnitsõn, Aleksander
Scientific proceedings of Riga Technical University. 7.serija, Telecommunications and electronics
2001
/
p. 81-86
artikkel ajakirjas
157
artikkel ajakirjas
System-level data format exploration for dynamically allocated data structures
Ellervee, Peeter
;
Miranda, Miguel
;
Catthoor, Francky
;
Hemani, Ahmed
IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
2001
/
12, p. 1469-1472 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/969440
artikkel ajakirjas
158
dissertatsioon
System-level design of timing-sensitive network-on-chip based dependable systems = Kiipvõrkudel põhinevate ajakriitiliste ja töökindlate süsteemide kõrgtaseme disain
Tagel, Mihkel
2012
https://www.ester.ee/record=b2778263*est
dissertatsioon
159
artikkel ajakirjas
Z-RAM-mälu
Toomsalu, Arvo
A & A
2008
/
3, lk. 10-19
https://artiklid.elnet.ee/record=b1022321*est
artikkel ajakirjas
160
artikkel ajalehes
TalTechi arvutisüsteemide professori uudne tehnoloogia raskendab spionaaži [Võrguväljaanne]
Kald, Indrek
ituudised.ee
2021
"TalTechi arvutisüsteemide professori uudne tehnoloogia raskendab spionaaži
artikkel ajalehes
161
artikkel kogumikus
Teaching advanced test issues in digital electronics
Ubar, Raimund-Johannes
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
Proceedings of the 6th IEEE International Conference on Information Technology Based Higher Education and Training : ITHET : July 7-9, 2005, Juan Dolio, Dominican Republic
2005
/
p. S2B-1 - S2B-6 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ITHET.2005.1560318
artikkel kogumikus
162
artikkel kogumikus
Teaching digital test with BIST analyzer
Jutman, Artur
;
Tšertov, Anton
;
Tšepurov, Anton
;
Aleksejev, Igor
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
19th EAEEIE Annual Conference : June 29-July 2, 2008, Tallinn, Estonia : formal proceedings
2008
/
p. 123-128 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/EAEEIE.2008.4610171
artikkel kogumikus
163
artikkel ajalehes
Tehisintellekti kiire areng tõotab kiibitööstust põhjalikult raputada
Port, Kristjan
delfi.ee
2023
Tehisintellekti kiire areng tõotab kiibitööstust põhjalikult raputada
artikkel ajalehes
164
artikkel ajalehes
Tehnikaülikooli teadlased loovad uue põlvkonna veakindlaid kiipe
Nõges, Krõõt
Mente et Manu
2010
/
lk. 2
https://www.ester.ee/record=b1242496*est
artikkel ajalehes
165
artikkel ajalehes
Tehnikaülikooli teadlaste juhtimisel luuakse uue põlvkonna veakindlaid kiipe
Studioosus
2010
/
veebr., lk. 8
https://www.ester.ee/record=b1558644*est
artikkel ajalehes
166
artikkel ajakirjas
10th IEEE European Test Symposium
Ubar, Raimund-Johannes
;
Prinetto, Paolo
;
Raik, Jaan
IEEE journal of design & test of computers
2005
/
p. 480-481 : phot
http://dx.doi.org/10.1109/MDT.2005.106
artikkel ajakirjas
167
artikkel kogumikus
Test configurations for diagnosing faulty links in NoC switches
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Govind, Vineeth
12th IEEE European Test Symposium ETS 2007 : 20-24 May 2007, Freiburg, Germany : proceedings
2007
/
p. 29-34 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ETS.2007.41
artikkel kogumikus
168
artikkel kogumikus
Test cost minimization for hybrid BIST
Jervan, Gert
;
Peng, Zebo
;
Ubar, Raimund-Johannes
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : 25-27 October 2000, Yamanashi, Japan : proceedings
2000
/
p. 283-298 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/887168
artikkel kogumikus
169
artikkel kogumikus
Test time minimization for hybrid BIST of core-based systems
Jervan, Gert
;
Eles, Petru
;
Peng, Zebo
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
12th Asian Test Symposium (ATS 2003) : 17-19 November 2003, Xian, China
2003
/
p. 318-325 : ill
https://link.springer.com/article/10.1007/s11390-006-0907-x
artikkel kogumikus
170
artikkel kogumikus
Test time minimization for hybrid BIST with test pattern broadcasting
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Jervan, Gert
;
Peng, Zebo
IEEE NORCHIP 2003 : 21 Norchip Conference : Riga, Latvia, 10-11 November 2003 : proceedings
2003
/
p. 112-116 : ill
https://www.ida.liu.se/labs/eslab/publications/pap/db/norchip03.pdf
artikkel kogumikus
171
artikkel kogumikus
The dildis-project-using applets for more demonstrative lectures in digital systems design and test
Ubar, Raimund-Johannes
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
FIE 2001 : 31st Annual Frontiers in Educations Conference : Impact on Engineering and Science Education : Reno, Nevada, October 10-13, 2001 : conference program
2001
/
p. 83
https://ieeexplore.ieee.org/document/963996
artikkel kogumikus
172
artikkel kogumikus
The dildis-project-using applets for more demonstrative lectures in digital systems design and test
Ubar, Raimund-Johannes
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
Proceedings of the 31st ASEE/IEEE Frontiers in Educations Conference : FIE'2001 : Reno, Nevada
2001
/
p. SIE-2-7
https://ieeexplore.ieee.org/document/963996
artikkel kogumikus
173
artikkel ajalehes
Töökindla arvutusriistvara keskuse juht Maksim Jenihhin
Jenihhin, Maksim
forte.delfi.ee
2024
Töökindla arvutusriistvara keskuse juht Maksim Jenihhin
artikkel ajalehes
174
artikkel kogumikus
Ultra fast parallel fault analysis on structurally synthesized BDDs
Ubar, Raimund-Johannes
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
12th IEEE European Test Symposium ETS 2007 : 20-24 May 2007, Freiburg, Germany : proceedings
2007
/
p. 131-136 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ETS.2007.43
artikkel kogumikus
175
artikkel kogumikus
Untestable fault identification in sequential circuits using model-checking
Raik, Jaan
;
Fujiwara, Hideo
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Krivenko, Anna
Proceedings of the 17th Asian Test Symposium ATS 2008 : November 24-27, 2008, Sapporo, Japan
2008
/
p. 21-26 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ATS.2008.22
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 193, kuvan
151 - 175
eelmine
1
2
3
4
5
6
7
8
järgmine
märksõna
1
1.
integraallülitused
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT