Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

476

artikkel ajalehes

Tallinnas avati NATO DIANA piirkondlik keskusEesti Elu : [Kanada ajaleht]2024 / lk. 2

artikkel ajalehes

477

artikkel ajalehes

TalTech käivitab 5G testvõrgud. Eesti firmad saavad arendada teenuseid välisturgudeleKald, Indrekituudised.ee2023 TalTech käivitab 5G testvõrgud. Eesti firmad saavad arendada teenuseid välisturgudele

artikkel ajalehes

478

artikkel ajalehes

TalTechis hakatakse testima 6G võrku. Margus Rohtla: „Oleks vaid minu õpingute ajal sellised võimalused olnud!“Lindpere, Elle Isabelforte.delfi.ee2023 TalTechis hakatakse testima 6G võrku. Margus Rohtla: „Oleks vaid minu õpingute ajal sellised võimalused olnud!“

artikkel ajalehes

479

artikkel ajakirjas

Tarkvara omaduste parandamine kasutatavuse testimise kauduEessaar, ErkiA & A1999 / 2, lk. 26-31

artikkel ajakirjas

480

artikkel ajakirjas

Tarkvara testimisest ja testijatest EestisMarkvardt, MailiA & A2010 / 3, lk. 62-65

artikkel ajakirjas

481

artikkel kogumikus

Teaching advanced test issues in digital electronicsUbar, Raimund-Johannes; Orasson, Elmet; Raik, Jaan; Wuttke, Heinz-DietrichProceedings of the 6th IEEE International Conference on Information Technology Based Higher Education and Training : ITHET : July 7-9, 2005, Juan Dolio, Dominican Republic2005 / p. S2B-1 - S2B-6 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ITHET.2005.1560318

artikkel kogumikus

482

artikkel kogumikus

Teaching digital system testOyeniran, Adeboye Stephen; Ubar, Raimund-Johannes; Kruus, MargusThe 27th EAEEIE Annual Conference : June 7-9, 2017, Grenoble2017 / [6] p

artikkel kogumikus

483

artikkel kogumikus

Teaching digital test with BIST analyzerJutman, Artur; Tšertov, Anton; Tšepurov, Anton; Aleksejev, Igor; Ubar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-Dietrich19th EAEEIE Annual Conference : June 29-July 2, 2008, Tallinn, Estonia : formal proceedings2008 / p. 123-128 : ill http://dx.doi.org/10.1109/EAEEIE.2008.4610171

artikkel kogumikus

484

artikkel ajakirjas

Tehnikaülikoolis on uus katseseade, mis võib välja panna Abramsi tanki kaaluEhitaja2023 / lk. 35 : fot https://www.ester.ee/record=b1072123*est https://artiklid.elnet.ee/record=b2904596*est

artikkel ajakirjas

485

artikkel kogumikus

Temporally extended high-level decision diagrams for PSL assertions simulationJenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Tšepurov, Anton; Ubar, Raimund-JohannesProceedings : Thirteenth IEEE European Test Symposium : ETS 2008 : 25-29 May 2008, Verbania, Italy2008 / p. 61-68 : ill https://ieeexplore.ieee.org/document/4556029

artikkel kogumikus

486

artikkel kogumikus

Tension stiffening model based on test data of RC beamsIdnurm, Siim; Bacinskas, Darius; Gribniak, Viktor; Sokolov, Aleksandr; Kaklauskas, GintarisThe 10th International Conference "Modern Building Materials, Structures and Techniques" : May 19-21, 2010, Lithuania : selected papers2010 / p. 810-814 : ill https://www.researchgate.net/publication/265635200_Tension-stiffening_model_based_on_test_data_of_RC_beams

artikkel kogumikus

487

artikkel ajakirjas

10th IEEE European Test SymposiumUbar, Raimund-Johannes; Prinetto, Paolo; Raik, JaanIEEE journal of design & test of computers2005 / p. 480-481 : phot http://dx.doi.org/10.1109/MDT.2005.106

artikkel ajakirjas

488

artikkel kogumikus

"Tervis ruudus", ehk, Tippkeskuse CEBE luguUbar, Raimund-JohannesTeadusmõte Eestis (X). Tehnikateadused. 3 : [artiklikogumik]2019 / lk. 200-215 : ill., fot https://www.ester.ee/record=b5208765*est

artikkel kogumikus

489

artikkel kogumikus

Test cost minimization for hybrid BISTJervan, Gert; Peng, Zebo; Ubar, Raimund-JohannesIEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : 25-27 October 2000, Yamanashi, Japan : proceedings2000 / p. 283-298 : ill https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/887168

artikkel kogumikus

490

artikkel kogumikus

Test development and deployment tool-set for mixed-signal and digital devicesMellik, Andres; Raik, JaanBEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 11th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology : October 6-8, 2008, Tallinn, Estonia2008 / p. 163-166 : ill

artikkel kogumikus

491

artikkel kogumikus

Test driven domain modellingPiho, Gunnar; Tepandi, Jaak; Parman, Marko; Puusep, Viljam; Roost, MartMIPRO 2011 : 34th International Convention on Information and Communication Technology, Electronics and Microelectronics : May 23-27, 2011, Opatija, Croatia : proceedings2011 / p. 576-581 https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=5967121

artikkel kogumikus

492

artikkel kogumikus

Test generation for control faults in digital systemsDušina, Julia; Brik, MarinaBEC : Baltic Electronics Conference : proceedings of the 4th Biennial Conference, October 9-14, 1994, Tallinn (Estonia). 11994 / p. 325-330: ill

artikkel kogumikus

493

artikkel kogumikus

Test generation for digital systemsUbar, Raimund-JohannesDigest of papers - FTCS 13th Annual International Symposium on Fault-Tolerant Computing, June 28 - 30, 1983, Milano, Italy1983 / p. 374-377

artikkel kogumikus

494

artikkel kogumikus

Test generation for digital systems at functional levelUbar, Raimund-Johannes; Kuchcinski, Ktzysztof; Peng, Z.Research report LiTH-IDA-R-90-06, Linköping University, Sweden1990 / p. 1-21

artikkel kogumikus

495

artikkel kogumikus

Test generation for finite state machinesUbar, Raimund-Johannes; Brik, MarinaBEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings1996 / p. 233-236: ill

artikkel kogumikus

496

artikkel kogumikus

Test generation for microprocessor control mechanismsLohuaru, Tõnu; Ubar, Raimund-JohannesFTSD-10 : Deseta Mezdunarodnaja Konferencija "Nadezdnost i Diagnostika na ECM. Mikrokompjutri i Sistemi", Varna, Bulgaria, 1987 = 10th International Conference on Fault-Tolerant Systems and Diagnostics (1987)1987 / p. 305-311

artikkel kogumikus

497

artikkel kogumikus

Test generation for microprocessors on alternative graphsAlango, Villem; Kont, Toomas; Ubar, Raimund-Johannes33. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium : 24.-28.10.1988. H.3 Vortragsreihe B, technische und angewandte Informatik/Computertechnik1988 / p. 11-14

artikkel kogumikus

498

artikkel kogumikus

Test generation techniques and algorithmsUbar, Raimund-Johannes; Gramatova, Elena; Fisherova, MariaHandbook of testing electronic systems2005 / p. 99-173 : ill

artikkel kogumikus

499

artikkel kogumikus

Test method for determining radiation absorptivity and emissivity coefficients of ACSR conductorsKiitam, Ivar18th International Symposium "Topical Problems in the Field of Electrical and Power Engineering". Doctoral School of Energy and Geotechnology III : Toila, Estonia, January 14-19, 2019 : [proceedings]2019 / p. 185-186 : ill https://www.ester.ee/record=b5183874*est

artikkel kogumikus

500

artikkel ajakirjas

Test method for the total content of non-volatile phenols in wastewaterJohannes, Ille; Mölder, Leevi; Tiikma, LaineOil shale1998 / 3, p. 232-238

artikkel ajakirjas

testimine (märksõna)

teaviku laadid

märksõna 1

võtmesõna 1