Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
testimine (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
532
Vaata veel..
(2/2)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(532)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
201
artikkel kogumikus
High-level modeling and testing of multiple control faults in digital systems
Jasnetski, Artjom
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Tšertov, Anton
;
Schölzel, Mario
;
Ubar, Raimund-Johannes
Formal proceedings of the 2016 IEEE 19th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 20-22, 2016, Košice, Slovakia
2016
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DDECS.2016.7482445
artikkel kogumikus
202
artikkel kogumikus
High-level test data generation for software based self-test in microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Jasnetski, Artjom
;
Tšertov, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
2017 6th Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO) : including ECYPS'2017 : proceedings : research monograph : Bar, Montenegro, June 11th-15th, 2017
2017
/
p. 86-91 : ill
https://doi.org/10.1109/MECO.2017.7977167
artikkel kogumikus
203
artikkel kogumikus
High-level test generation for processing elements in many-core systems
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Raik, Jaan
12th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC2017), July 12-14, 2017, Madrid, Spain : proceedings
2017
/
8 p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ReCoSoC.2017.8016156
artikkel kogumikus
204
artikkel kogumikus
High-level test synthesis with hierarchical test generation
Jervan, Gert
;
Eles, Petru
;
Peng, Zebo
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
17th NORCHIP Conference : Oslo, Norway, 8-9 November 1999 : proceedings
1999
/
p. 291-296
artikkel kogumikus
205
artikkel ajakirjas
Hiired laboris : [arvutihiirte testist TTÜ mehaanikateaduskonna laboris]
Urbas, Ando
;
Einama, Kaido
Arvutimaailm
2010
/
11, lk. 40-45 : ill
artikkel ajakirjas
206
artikkel kogumikus
How to generate high quality tests for digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
;
Aarna, Margit
;
Kruus, Helena
;
Raik, Jaan
2004 International Semiconductor Conference : 27th edition, October 4-6, 2004, Sinaia, Romania : CAS 2004 proceedings. Volume 2
2004
/
p. 459-462 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/SMICND.2004.1403048
artikkel kogumikus
207
artikkel ajakirjas
Hädavalgustuse automaattestimise näide
Tamm, Tiiu
Elektriala
2015
/
lk. 22-23 : ill
https://artiklid.elnet.ee/record=b2721082*est
artikkel ajakirjas
208
artikkel ajakirjas
Hybrid BIST methodology for testing core-based systems
Jervan, Gert
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Peng, Zebo
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences. Engineering
2006
/
3-2, p. 300-322 : ill
artikkel ajakirjas
209
artikkel ajakirjas
Hybrid BIST optimization using reseeding and test set compaction
Jervan, Gert
;
Orasson, Elmet
;
Kruus, Helena
;
Ubar, Raimund-Johannes
Microprocessors and microsystems
2008
/
5/6, p. 254-262 : ill
https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0141933108000288
artikkel ajakirjas
210
artikkel kogumikus
Hybrid BIST optimization using reseeding and test set compaction
Jervan, Gert
;
Orasson, Elmet
;
Kruus, Helena
;
Ubar, Raimund-Johannes
10th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools, DSD 2007 : 29-31 August 2007, Lübeck, Germany : proceedings
2007
/
p. 596-603 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2007.4341529
artikkel kogumikus
211
artikkel kogumikus
Hybrid BIST scheduling for NoC-based SoCs
Jervan, Gert
;
Shchenova, Tatjana
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings [of] 24th IEEE Norchip Conference : Linköping, Sweden, 20-21 November 2006
2006
/
p. 141-144 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/4126966
artikkel kogumikus
212
artikkel kogumikus
Hybrid BIST time minimization for core-based systems with STUMPS architecture
Jervan, Gert
;
Eles, Petru
;
Peng, Zebo
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : 3-5 November 2003, Boston, Massachusetts : proceedings
2003
/
p. 225-232 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/1250116
artikkel kogumikus
213
dissertatsioon
Hybrid built-in self-test : methods and tools for analysis and optimization of BIST = Sisseehitatud hübriidne isetestimine : meetodid ja vahendid analüüsiks ning optimeerimiseks
Orasson, Elmet
2007
https://www.ester.ee/record=b2305436*est
dissertatsioon
214
raamat
Hybrid built-in self-test and test generation techniques for digital systems
Jervan, Gert
2005
https://www.ester.ee/record=b2177537*est
raamat
215
artikkel kogumikus
Hybrid functional BIST for digital systems
Mazurova, Natalja
;
Smahtina, Julia
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia
2004
/
p. 205-208 : ill
artikkel kogumikus
216
artikkel kogumikus
Hydraulic conductivity testing method for all-in aggregates and mining waste materials
Šommet, Julija
;
Pastarus, Jüri-Rivaldo
;
Sabanov, Sergei
10th International Symposium "Topical Problems in the Field of Electrical and Power Engineering”. Doctoral School of Energy and Geotechnology II : Pärnu, Estonia, January 10-15, 2011
2011
/
p. 122-126 : ill
artikkel kogumikus
217
artikkel ajakirjas
Hygrothermal calculations and laboratory tests on timber-framed wall structures
Kalamees, Targo
;
Vinha, Juha
Building and environment
2003
/
5, p. 689-697 : ill
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S036013230200207X
artikkel ajakirjas
218
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
IEEE European Test Symposium (ETS)
Eggersgluss, Stephan
;
Hamdioui, Said
;
Jutman, Artur
;
Michael, Maria K.
;
Raik, Jaan
2019 IEEE International Test Conference (ITC)
2019
/
4 p
https://doi.org/10.1109/ITC44170.2019.9000148
Conference proceeding at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
219
artikkel kogumikus
Implementation-independent functional test for transition delay faults in microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
2020 23rd Euromicro Conference on Digital System Design (DSD), 26-28 August 2020, Kranj, Slovenia
2020
/
p. 646-650
https://doi.org/10.1109/DSD51259.2020.00105
artikkel kogumikus
220
artikkel kogumikus
Implementation-independent functional test generation for RISC microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
VLSI-SoC 2019 : 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration : [proceedings]
2019
/
p. 82-87 : ill
https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC.2019.8920323
artikkel kogumikus
221
artikkel kogumikus
Improving embedded software testing
Savimaa, Raul
SCI 2004 : the 8th World Multi-Conference on Systemics, Cybernetics and Informatics : July 18-21, 2004, Orlando, Florida, USA. Volume 1, Information Systems, Technologies and Applications : proceedings
2004
/
p. 270-274
artikkel kogumikus
222
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Inductive and coinductive predicate liftings for effectful programs
Veltri, Niccolò
;
Voorneveld, Niels F.W.
Proceedings 37th Conference on Mathematical Foundations of Programming SemanticsHybrid: Salzburg, Austria and Online, 30th August - 2nd September, 2021
2021
/
p. 260-277
https://doi.org/10.4204/EPTCS.351.16
Conference proceeding at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
223
artikkel kogumikus
Integrated design and test generation under Internet based environment MOSCITO
Schneider, Andre
;
Ivask, Eero
;
Ubar, Raimund-Johannes
Euromicro Symposium on Digital System Design : Architectures, Methods and Tools : September 4-6, 2002, Dortmund, Germany : proceedings
2002
/
p. 187-194 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2002.1115368
artikkel kogumikus
224
artikkel ajakirjas
Integrated self-regulating resistive heating for isothermal nucleic acid amplification tests (NAAT) in Lab-on-a-Chip (LoC) devices
Pardy, Tamas
;
Tulp, Indrek
;
Kremer, Clemens
;
Rang, Toomas
;
Stewart, Ray
PLoS ONE
2017
/
p. 1-11 : ill
https://doi.org/10.1371/journal.pone.0189968
artikkel ajakirjas
225
raamat
Intelligent support for expert system verification and testing in object-oriented programming environments : (preprint)
Trausan-Matu, S.
;
Tepandi, Jaak
;
Barbuceanu, M.
1990
raamat
Kirjeid leitud 532, kuvan
201 - 225
eelmine
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
järgmine
märksõna
1
1.
testimine
võtmesõna
1
1.
testimine
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT