Identifying untestable faults in sequential circuits using test path constraints

vastutusandmed
Taavi Viilukas, Anton Karputkin, Jaan Raik, Maksim Jenihhin, Raimund Ubar, Hideo Fujiwara
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 28, 4
ilmumisaasta
leheküljed
p. 511-521 : ill
võtmesõna
automated test pattern generation
untestable faults
ISSN
0923-8174
märkused
Bibliogr.: 23 ref
keel
inglise
Viilukas, T., Karputkin, A., Raik, J., Jenihhin, M., Ubar, R., Fujiwara, H. Identifying untestable faults in sequential circuits using test path constraints // Journal of electronic testing : theory and applications (JETTA) (2012) Vol. 28, 4, p. 511-521 : ill.