Mutation analysis for systemC designs at TLM
autor
Guarnieri, Valerio
Bombieri, Nicola
Pravadelli, Graziano
Fummi, Franco
Hantson, Hanno
Raik, Jaan
Jenihhin, Maksim
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Valerio Guarnieri, Nicola Bombieri, Graziano Pravadelli, Franco Fummi, Hanno Hantson, Jaan Raik, Maksim Jenihhin, Raimund Ubar
allikas
12th IEEE Latin American Test Workshop (LATW) : Porto de Galinhas, Brasil, 27-30 March 2011
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2011
leheküljed
[6] p
konverentsi nimetus, aeg
12th IEEE Latin American Test Workshop (LATW), 27-30 March 2011
konverentsi toimumispaik
Porto de Galinhas, Brasil
leitav
https://ieeexplore.ieee.org/document/5985925
märksõna
digitaaltehnika
disain
riistvara
kodeerimine
testimine
võtmesõna
mutation analysis
SystemC
TLM
RTL
ISBN
978-1-4577-1489-4
märkused
Bibliogr.: 14 ref
keel
inglise