kompaktne vaade prindi

Using simulation statistics for bug localization in RTL designs

autor
Tihhomirov, Valentin
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
vastutusandmed
Valentin Tihhomirov, Maksim Jenihhin, Jaan Raik
allikas
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu
ilmumiskoht
Tallinn
kirjastus/väljaandja
Tallinna Tehnikaülikooli kirjastus
ilmumisaasta
2013
leheküljed
p. 107-110 : ill
konverentsi nimetus, aeg
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmes aastakonverents, 15.-16. novembril 2013
konverentsi toimumispaik
Haapsalu
märksõna
digitaaltehnika
riistvara
testimine
kompuutersimulatsioon
ISBN
978-9949-23-560-5
märkused
Bibliogr.: 19 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise
Tihhomirov, V., Jenihhin, M., Raik, J. Using simulation statistics for bug localization in RTL designs // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu. Tallinn : Tallinna Tehnikaülikooli kirjastus, 2013. p. 107-110 : ill.