Kostin, S., Raik, J., Ubar, R., Jenihhin, M. et al.

täiskirje prindi

SPICE-inspired fast gate-level computation of NBTI-induced delays in nanoscale logic

autor

Kostin, Sergei

Raik, Jaan

Ubar, Raimund-Johannes

Jenihhin, Maksim

vastutusandmed

Sergei Kostin, Jaan Raik, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, ... [et al.]

allikas

2015 IEEE 18th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems DDECS 2015 : 22-24 April 2015, Belgrade, Serbia : proceedings

ilmumiskoht

Los Alamitos

kirjastus/väljaandja

IEEE Computer Society

ilmumisaasta

2015

leheküljed

p. 223-228 : ill

konverentsi nimetus, aeg

18th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems DDECS 2015, 22-24 April, 2015

konverentsi toimumispaik

Belgrade, Serbia

ISBN

978-1-4799-6780-3

märkused

Bibliogr.: 14 ref

TTÜ struktuuriüksus

arvutitehnika instituut

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

elektronlülitused

elutsüklid (tehnika)

kompuutermodelleerimine

võtmesõna

Negative Bias Temperature Instability (NBTI)

NBTI-induced path delay estimation

static timing analysis

predictive model

aging

logic circuit

Kostin, S., Raik, J., Ubar, R., Jenihhin, M. et al. SPICE-inspired fast gate-level computation of NBTI-induced delays in nanoscale logic // 2015 IEEE 18th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems DDECS 2015 : 22-24 April 2015, Belgrade, Serbia : proceedings. Los Alamitos : IEEE Computer Society, 2015. p. 223-228 : ill.