True path tracing in structurally synthesized BDDs for testability analysis of digital circuits
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Jürimägi, Lembit
Oyeniran, Adeboye Stephen
Jenihhin, Maksim
vastutusandmed
Raimund Ubar, Lembit Jürimägi, Adeniyi Olanrewaju Adekoya, Maksim Jenihhin
allikas
Euromicro Conference on Digital System Design : DSD 2019 : 28 - 30 August 2019 Kallithea, Chalkidiki, Greece : proceedings
ilmumiskoht
Danvers
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2019
leheküljed
p. 492-499 : ill
konverentsi nimetus, aeg
22nd Euromicro Conference on Digital System Design, DSD 2019, 28 - 30 August 2019
konverentsi toimumispaik
Kallithea, Chalkidiki, Greece
leitav
https://doi.org/10.1109/DSD.2019.00077
märksõna
digitaalintegraallülitused
digitaaltehnika
otsustusdiagrammid
võtmesõna
combinational circuits
signal probabilities
controllability
testability
fault redundancy
structurally synthesized BDDs
ISBN
978-1-7281-2861-0
978-1-7281-2863-4
märkused
Bibliogr.: 25 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus