Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
fault redundancy (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
5
Vaata veel..
(1/94)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(5)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Calculation of probabilistic testability measures for digital circuits with Structurally Synthesized BDDs
Jürimägi, Lembit
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Microprocessors and microsystems
2020
/
art. 103117, 12 p
https://doi.org/10.1016/j.micpro.2020.103117
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
2
artikkel kogumikus
High-level test generation for processing elements in many-core systems
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Raik, Jaan
12th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC2017), July 12-14, 2017, Madrid, Spain : proceedings
2017
/
8 p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ReCoSoC.2017.8016156
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
Implementation-independent functional test generation for RISC microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
VLSI-SoC 2019 : 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration : [proceedings]
2019
/
p. 82-87 : ill
https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC.2019.8920323
artikkel kogumikus
4
artikkel kogumikus
Mixed-level identification of fault redundancy in microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Gürsoy, Cemil Cem
;
Raik, Jaan
LATS 2019 : 20th IEEE Latin American Test Symposium : Santiago, Chile, March 11th - 13th 2019
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/LATW.2019.8704591
artikkel kogumikus
5
artikkel kogumikus
True path tracing in structurally synthesized BDDs for testability analysis of digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Jenihhin, Maksim
Euromicro Conference on Digital System Design : DSD 2019 : 28 - 30 August 2019 Kallithea, Chalkidiki, Greece : proceedings
2019
/
p. 492-499 : ill
https://doi.org/10.1109/DSD.2019.00077
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 5, kuvan
1 - 5
võtmesõna
94
1.
fault redundancy
2.
low-level fault redundancy
3.
redundancy
4.
triple modular redundancy
5.
(N+1) redundancy
6.
asynchronous fault detection
7.
automatic fault diagnosis
8.
bearing fault diagnosis
9.
bi-directional fault monitoring devices
10.
conditional fault collapsing
11.
control fault models
12.
critical path fault tracing
13.
cross-layer fault tolerance
14.
cross-layered fault management
15.
extended fault class
16.
fault currents
17.
fault analysis
18.
fault analysis model
19.
fault classification
20.
fault classification
21.
fault collapsing
22.
fault compensation
23.
fault coverage
24.
fault current and voltage measurements
25.
Fault current limite
26.
fault current limiter
27.
fault detection
28.
fault detection and diagnoses
29.
fault detection and diagnosis
30.
fault diagnosis
31.
fault diagnostic
32.
fault diagnostic resolution
33.
fault diagnostics
34.
fault dignosis
35.
fault effects
36.
fault emulation
37.
fault equivalence and dominance
38.
fault handling
39.
fault handling strategy
40.
fault indicator
41.
fault injection
42.
Fault Injection Simulation
43.
fault Interruption
44.
fault localization
45.
fault location
46.
fault management
47.
fault masking
48.
fault modeling
49.
fault models
50.
fault monitoring
51.
fault prediction
52.
fault protection
53.
fault resilience
54.
fault ride through
55.
Fault ride through enhancement
56.
fault signal
57.
fault simulastion
58.
fault simulation
59.
fault simulation with critical path tracing
60.
fault tolerance
61.
fault tolerant
62.
fault tolerant control
63.
fault tolerant operation
64.
fault tolerant router design
65.
fault tolerant systems
66.
Fault Tree Analysis
67.
fault-injection attack
68.
fault-plane solution
69.
fault-resilience
70.
fault-resistant
71.
fault-ride-through (FRT)
72.
fault-tolerance
73.
fault-tolerant
74.
Fault-tolerant (FT) converters
75.
fault-tolerant control
76.
fault-tolerant converter
77.
functional fault model
78.
high-level control fault model
79.
high-level fault coverage
80.
high-level fault model
81.
high-level fault simulation
82.
high-level functional fault model
83.
Katun fault
84.
no fault found
85.
No-Fault-Found
86.
open circuit fault
87.
parallel fault-simulation
88.
short circuit fault
89.
spectrum-based fault localization
90.
stacking fault
91.
stuck-at fault model
92.
test generation and fault diagnosis
93.
transient fault mitigation
94.
transmission lines fault
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT