A tool set for teaching design-for-testability of digital circuits
autor
Kostin, Sergei
Orasson, Elmet
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
S. Kostin, E. Orasson, R. Ubar
allikas
EWME 2016 : 11th European Workshop on Microelectronics Education : May 11-13, 2016, Southampton, UK
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2016
leheküljed
[6] p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
11th European Workshop on Microelectronics Education, May 11-13, 2016
konverentsi toimumispaik
Southampton, UK
leitav
https://doi.org/10.1109/EWME.2016.7496466
märksõna
elektronlülitused
rikked
testimine
arvutiprogrammid
e-õpe
võtmesõna
e-learning
design-for-testability
test generation
built-in self-test
controllability
observability
LFSR
stuck-at fault model
fault simulation
ISBN
978-1-4673-8584-8
märkused
Bibliogr.: 12 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise