Application of sequential test set compaction to LFSR reseeding
vastutusandmed
Igor Aleksejev, Artur Jutman, Jaan Raik, Raimund Ubar
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 102-107 : ill
konverentsi nimetus, aeg
26th Norchip Conference, 17-18 November, 2008
konverentsi toimumispaik
Tallinn, Estonia
märksõna
ISBN
978-1-4244-2492-4
märkused
Bibliogr.: 11 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Aleksejev, I., Jutman, A., Raik, J., Ubar, R. Application of sequential test set compaction to LFSR reseeding // 26th Norchip Conference : Tallinn, Estonia, 17-18 November 2008 : formal proceedings. [S.l.] : IEEE, 2008. p. 102-107 : ill.