Diagnostic modeling of microprocessors with high-level decision diagrams
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Raik, Jaan
Jutman, Artur
Jenihhin, Maksim
Brik, Marina
Istenberg, Martin
Wuttke, Heinz-Dietrich
vastutusandmed
R.Ubar, J.Raik, A.Jutman, M.Jenihhin, M.Brik, M.Istenberg, H.-D.Wuttke
allikas
BEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 11th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology : October 6-8, 2008, Tallinn, Estonia
ilmumiskoht
[Tallinn]
kirjastus/väljaandja
Tallinn University of Technology
ilmumisaasta
2008
leheküljed
p. 147-150 : ill
konverentsi nimetus, aeg
BEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : the 11th Biennial Baltic Electronics Conference, October 6-8, 2008
konverentsi toimumispaik
Tallinn, Estonia
märksõna
mikroprotsessorid
diagnostika (tehnika)
modelleerimine (teadus)
otsustusdiagrammid
ISSN
1736-3705
ISBN
978-1-4244-2059-9
märkused
Bibliogr.: 15 ref
keel
inglise